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《直接水冷铜基钨涂层活动限制器在HT-7等离子体辐照下W杂质产生行为研究
Summary of HT-7 2006 Spring Campaign 2007.08.30 本提案将开展对W/Cu活动限制器在HT-7 等离子体辐照下的W 杂质行为研究。 本次实验首次安装并使用光纤光谱仪监测铜基钨瓦活动限制器表面杂质的产生过程。 本提案也将考察现有的其他诊断对W 杂质的产生和传输行为研究工作的适用性。 Avantes Avaspec-2048 Fiber Optic Spectrometer 在欧姆放电情况下,等离子体的基本参数如下:等离子体电流约为150KA,环电压约为1.6V,电子密度约为1.5e19m-3。 活动限制器从HT-7的SOL区域(r 270mm)往等离子体边缘(a = 270mm)移动、然后直接与等离子体接触并成为主限制器(r 270mm)。 实验中共采用了以下位置逐步降低限制器:280,275,270,265,260。 Spectrum Results @ OHM Heating LHCD 驱动等离子体辐照实验 Spectrum Results @ LHCD W line relative intensity in OHM and LHCD 本次试验光纤光谱仪的安装使用在W杂质行为监测中取得了初步效果。 另外在本次实验过程中,由于涂层制备工艺的问题,活动限制器表面在局部小区域内出现了材料失效现象,其中位于电子侧的表面温度在等离子体辐照结束后下降缓慢, 并有某点处的温度远远高于周围温度。 这些实验结果将有力地指导下一步的活动限制器的改造和W材料的深入研究。 致谢 石跃江 吴振伟 符佳 孙丹鹏 HT-7 Team ASIPP ASIPP 直接水冷铜基钨涂层活动限制器在HT-7 等离子体辐照下W 杂质产生行为研究 杨钟时 钱正辉 李强 罗广南 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 实验意义 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 光谱仪平台 光学平台 波长范围 分辨率 杂散光 灵敏度 探测器 信噪比 AD 转换 卡 积分时间 接口 采样速度 数据传输速度 I/O 接口 电源要求 外型尺寸 / 重量 avaspec-2048 对称 Czerny-Turner 光路设计 ,75mm 焦距 200-1100nm 0.06-0.08nm 0.1% 每毫秒积分时间 20000 个计数/μW CCD 线阵, 2048 个象素 200 : 1 14 位, 1.33 MHz 2 毫秒到 60 秒 USB1.1, 12Mbps RS-232, 115,200bps 17 毫秒 / 每次扫描 14-31 毫秒 / 每次扫描 (取决于所传输的像素数) DB-15 接口, 2 路 数字 输入, 12 路 数字 输出 直流 12V (带反向极性保护), 160mA ( PS-12V/1. 0 A )或 5VDC USB 电源 175×110×44mm (单通道) 716g? 175×165×85mm (双通道) 1700g Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 欧姆放电等离子体辐照实验 Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 91310: 340mm 91334: 275mm 91336:280mm 91344: 270mm 91349: 265mm 91355:260mm Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd. 欧姆放电等离子体辐照实验 在推进的过程中,从单道OII光谱和单道OV光谱中看,O杂质的含量没有明显的变化。 从VIS6光谱中亦没有看到CI
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