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- 2017-01-01 发布于重庆
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Test专用术语.
LCD Liquid Crystal Display的简称。用电场、磁场等外部影响,改变液晶分子排列 ,改变液晶分子结构的光学特性后,利用其明暗效果的显示元件
TFT-LCD 在形成FET (Field Effect Transistor)结构的 TFT Glass与Color Filter之间注入液晶而制成的 显示元件,使用于Note Book PC、Monitor、中小型TV 等
Polarizer (POL) 将入射光分为2个直交的偏光,透射其中特定方向的光线,吸收或分散别的光线后,将透射光 变为偏振光的高分子Film
Back light (B/L) 为了给 LCD提供光源,在Panel后部组装的发光部件,有EL, LED, CCFL 等
Color Filter (C/F) 制造Color 液晶显示元件时使用的主要原材料,指按一定的顺序排列了Red,Green, Blue 像素的薄膜。
Pixel and Dot Pixel 是Picture Element的简称, Color Filter Stripe上的3个R,G,B Dot统称为单位像素, Dot (or Sub-pixel)指上述R,G,B的 各个像素
Lot 以一定目的捆绑为一个单位的状态.制造工艺上考虑作业时间及库存等情况后决定最佳Lot Size,并使用
Particle (P/T) 是大气灰尘及装备/DI Water产生的污染物质等的总称.一般指大小在0.001~1000?的固体及
液体粒子.
Flicker 因画面的亮度周期性的变化, 使使用人疲劳及降低画面质量的现象.
SPEC Specification 记载了与工艺/资材/质量相关的详细技术规格的技术标准文件
Sampling 从需要检查的总体中任意抽取检查样品的活动
MURA 画面不均匀的总称。TFT LCD画面显示后产生的画面不均匀形态的不良
X/Y Block 以 X/Y TAB Block 单位产生的不良。 以 Block 单位产生异常点灯和 Line Defect 现象
Common Short 表示由于 Cell 内部的导电性异物产生的 1 Line 形态的线缺陷不良现象
Data Open(DO) 是指 随着 Data 信号Line产生的线缺陷的一种
Gate Open(GO) 随着控制 TFT Channel On/Off 的Gate 信号Line 产生的线缺陷的一种
Zaratsuk 由于TFT LCD Cell 内部PI 膜的损伤产生的 Pixel 单位或者凝结成一定形态的漏光现象的一种。
ESD 由于静电的 Discharging 产生的微小线缺陷或 Mura 形态的不良
Flicker 由于TFT 特性不良以及画面局部性抖动不良产生的现象,在Green L31 One Dot Skip 画面容易检查出来。
DG Short 由于 Data Line 和 Gate Metal layer 间的 Short 产生的 Line Defect 现象。
检查Pattern 是检查panel 的不良Mode时,使用到的Pattern。 由Pattern Ganerator提供
PIXEL DEFECT 是LCD像素单位的不良,可明显显示在Active Matrix LCD显示方式上。有透光的灭点不良,和不透光导致的亮点不良。
Pixel Picture Element两个单词的合成词,表示构成画面的R,G,B 3 dot,叫一个像素。所谓清晰度高,就是指像素多的意思
W/T Cell Test设备的WORK TABLE VCR VIDEO CASSETTE RECORDER
P/G CELL TEST设备的PATTERN GENERATER
IPA 异丙醇 PM Prevention Maintance 设备的预防性维护 CDA CLEAN DRY AIR 洁净空气
MFG----Manufacturing制造部 WIP----work in product 在制品 FN----factory notice工厂公告单
SOP----Standard Operation Procedure 标准作业指导书 ISO International Standard Organization国际标准化组织
5S----Seiri Seito Seiso Seiketsu Shitsuke
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