裂变径迹测年原理对温度的响应解析.ppt

裂变径迹测年原理及对温度的响应 卫江伟 2015/6/4 内容概述： 一、 裂变径迹产生原理 二、 裂变径迹定年原理 三、 裂变径迹封闭温度原理 四、 裂变径迹相关应用 一、 裂变径迹产生原理 （一）裂变产生 （二）径迹蚀刻 （三）径迹形态 一、 裂变径迹产生原理 （一）裂变产生 裂变与衰变均属于自然界放射性同位素由不稳定状态变为稳定状态时所发生的核反应过程； 核衰变通常是指α、β、γ等衰变； 核裂变是指一个重元素的原子核分裂为两个质量相差不远的碎片；裂变反应可分为自发裂变和诱发裂变。自发裂变是原子核在没有外来因素影响下自行发生的核裂变，属于核素放射性衰变的一种类型； 诱发裂变是重原子核受外来粒子轰击，发生的核裂变反应，以中子诱发核裂变最为重要 （一）裂变产生 重核裂变之后，由于质量减少，产生约200MeV能量，大部分转变为裂变后碎片的动能，两个碎片在运动过程中经过一系列β或其他形式衰变最终形成两个稳定的核素； 碎片运动时与周围物质的原子核和电子发生电磁作用，从而使碎片改变方向和损失能量； 当通过的物质为绝缘材料时，就会沿着运动轨迹产生一个放射性损伤的狭窄痕迹即径迹； 解释：1）缓慢冷却重结晶；2）“离子爆炸尖峰”模型：电离化——正离子——排斥——损伤区域 此时形成的径迹称为潜径迹。 一、 裂变径迹产生原理 （二）径迹蚀刻 裂变径迹（潜径迹）直径约50~100?，即5-10nm，长度约15μm[4]，只能在电子显微镜下观察到； 由于裂变径迹区域特殊的晶格构成，可以与特定的蚀刻剂发生反应而被溶解，直径扩大到1-2μm，长度基本不变(15μm左右)； 这时就可以在普通光学显微镜下观察和统计裂变径迹的长度和数目，此时看到的称为径迹； （三）径迹形态 裂变径迹蚀刻外貌受矿物结晶对称性、蚀刻面在晶体结构中的位置、径迹取向、蚀刻时间等有关；径迹蚀刻数目与蚀刻剂种类和浓度、蚀刻时间、蚀刻温度、蚀刻面在晶体结构中的位置有关。 表1 不同的常见矿物的蚀刻条件 图1 磷灰石（0001）面蚀刻径迹随蚀刻时间的变化 注：磷灰石（Ca5[PO4]3(F,OH)）六方晶系，柱状,无杂质者无色透明； 锆石（Zr[SiO4]）岛状硅酸盐矿物，四方晶系，呈四方双锥、柱状等。 磷灰石裂变径迹镜下照片： 二、 裂变径迹定年原理 （一） 定年基本思路 （二） 定年公式推导 （三） 相关标准校正 二、 裂变径迹定年原理 （一） 定年基本思路 一般同位素定年基本思路： 已知一衰变体系，则衰变常数λ确定（ ）； 分别测定放射性母体当前剩余含量（N）及子体同位素当前含量（D*）； 带入衰变方程获取同位素封闭年龄； 裂变径迹定年基本思路： 已知238U自发裂变衰变常数λF; 测定238U发生自发裂变的原子含量，相当于测定D*值，可以通过测定自发径迹的密度(ρs)转换得到； 测定238U当前剩余的原子含量，相当于测定N值，目前常用的是间接法测量238U的含量，通过测量样品中235U含量，利用自然体系中238U和235U含量比值的固定关系求的238U的含量。235U含量可通过将样品进行反应堆中子照射，得到诱发径迹，通过统计诱发径迹密度（ρi）转换得到。 二、 裂变径迹定年原理 （二） 定年公式推导 （三） 相关标准校正 标准矿物校正 铀标准玻璃校正 三、 裂变径迹封闭温度原理 （一） 裂变径迹部分退火带及封闭封闭温度 （二） 裂变径迹长度分布与热史 三、 裂变径迹封闭温度原理 （一） 裂变径迹部分退火带及封闭封闭温度 退火：裂变径迹（潜径迹）并不总是稳定存在，潜径迹的稳定性受温度影响最为明显，表现为随温度升高而径迹密度减少、长度变短直至完全消失，这种受加热径迹发生衰退的现象称为退火； 径迹退火有一个上限温度当温度高于该温度后，径迹完全消失，这一温度称为封闭温度, 磷灰石径迹封闭温度在120℃左右； 部分退火带:从径迹开始发生退火到完全退火（消失）对应的温度范围称为部分退火带，磷灰石的部分退火带大致为70~120℃。 三、 裂变径迹封闭温度原理 （二） 裂变径迹长度分布与热史 径迹长度和数目都受温度影响明显，不同的冷却历史（或热史）对应有不同的径迹长度分布图。 图2 几种受热史的古径迹长度分布图 四、 裂变径迹相关应用 （一） 造山带隆升过程 平均地温梯度：30℃/Km. 利用同一高程不同矿物的裂变径迹年龄（AFT、ZFT），其年龄对应不同的温度，将温度转化为对应的深度，则可得出该时间段内的隆升速率； 利用不同高程上，同一矿物的裂变径迹年龄得出相关隆升速率。 图3 岩石抬升与封闭温度示意图 四、 裂变径迹相关应用 （二） 盆地热演化史 研究深度：一般3-5Km 磷灰石部分退火