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实验一晶体管单管放大电路.
深 圳 大 学 实 验 报 告 课程名称: 模拟电子技术 实验项目名称: 晶体管共射单级放大器(实验一) 学院: 光 电 工 程 学 院 专业: 光 电 信 息 工 程 授课教师: 文侨 实验指导教师: 报告人: 学号: 实验时间: 实验报告提交时间: 教务处制实验一 晶体管共射单级放大器一、实验目的1、掌握放大器静态工作点调试方法及其对放大器性能的影响。2、学习测量放大器静态工作点、放大倍数Av、输入电阻ri、输出电阻r。的方法,了解共射极电路特性。3、观察静态工作点和交、直流负载线对放大器和波形的影响。4、学习放大器的动态性能。5、熟悉常用电子仪器的使用方法及电子元器件的识别和模拟电路实验设备的性能。二、实验仪器与器件1、示波器;2、毫伏表;3、函数信号发生器;4、万用表;5、直流稳压电源;6、频率计;7、9013(β=50-100)、电阻器、电容器若干。(或模盒MK-1)三、实验原理图2-1为电阻分压式单管共射放大器实验电路图。图2-1共射极单管放大器实验电路它的偏置电路采用RB(RB11+Rp1) 和RB12 组成的分压电路,并在发射极中接有电阻Re(RE+RE1),以稳定放大器静态工作点。当在放大器的输入端加入输入信号Ui后,在放大器的输出端便可得到一个与Ui相位相反,幅值被放大了的输出信号Uo,从而实现了电压放大。在图2-1电路中,当流过偏置电阻RB和RB12的电流远大于三极管BG1的基极电流Ib时(一般5~10倍),它的静态工作点可用下式估算Ub≈(RB12/(RB+RB12))×VccIe=(Ub-Ube)/Re≈IcUCE=Vcc-Ic(Rc+Re)电压放大倍数 AV =-β×(Rc//RL)/ [rbe+ (1+β)Re] 输入电阻 Ri=RB//RB12//[rbe+ (1+β)Re]输出电阻 RO≈RC由于电子器件性能的分散性比较大,因此在设计和制作晶体管放大电路时,离不开测量和调试技术。在设计前应测量所有元器件的参数,为电路设计提供必要的依据。在完成设计和装配后,还要测量和调试放大器的静态工作点和各项性能指标。一个优质放大器,必然是理论设计与实验调整相结合的产物。因此,除了学习放大器理论知识与设计方法外,还必须掌握必要的测量和调试技术。放大器的测量和调试一般包括:放大器静态工作点的测量和调试,消除干扰与自激振荡及放大器动态性能指标的测量和调试等。1、放大器静态工作点的测量和调试(1)静态工作点的测量测量放大器静态工作点,应在输入信号Ui=0的情况下进行,即将放大器输入端短接,然后选用量程合适的直流毫安表和直流电压表分别测量晶体管的集电极电流Ic以及各电极对地的电位Ub、Uc和Ue。一般实验中,为了避免断开集电极,所以采用测量电压,然后算出Ic的方法。例如,只要测出Ue,即可用Ic≈Ie=Ue/Re算出Ic(也可据Ic=(Vcc-Uc)/Rc,由Uc测定Ic),同时也能算出Ube =Ub-UE ,Uce=Uc-Ue。为了减少误差,提高测量精度,应选用内阻较高的直流电压表。2)静态工作点的调试测量放大器静态工作点是指对管子集电极电流Ic(或Uce)的调整与测试。静态工作点是否合适,对放大器的性能和输出波形都有很大影响。如工作点偏高,放大器在加入交流信号以后易产生饱和失真,此时UO 的负半周将被削底,如图2-2(a)所示;如工作点偏低则易产生截止失真,即UO 的正半周将被削顶(而截止失真不如饱和失真明显),如图2-2(b)所示。所以在选定工作点以后还必须进行动态调试,即在放大器输入端加入一定的Ui,检查输出电压UO 的大小和波形是否满足要求。如不满足,则应调整静态工作点的位置。 (a)(b)图2-2 静态工作点对Uo波形失真的影响改变电路参数Vcc、Rc、RB(RB11+Rp1)、Rb2都会引起静态工作点的变化。但通常都采用调节偏置电阻Rp1的方法来改变静态工作点,如减少Rp1,可使静态工作点提高。最后还要说明的是,上面所说的工作点“偏高”或“偏低”不是绝对的。应该是相对信号的幅度而言,如信号幅度小,即使工作点较高或较低也不一定会出现失真。所以确切的说,产生波形失真是信号幅度与静态工作点设置配合不当所致。如需满足较大信号幅度的要求,静态工作点最好尽量靠近交流负载线的中心。2、放大器的动态指标测试放大器的动态指标包括电压放大倍数、输入电阻、输出电阻、最大不失真输出电压(动态范围)和通频带等。(1)电压放大倍数Av测量调整放大器到合适的静态工作点,然后加入输入电压Ui,在输出电压Uo不失真的情况下,用交流毫伏表测出和的有效值Ui和Uo,则(2)输入电阻ri的测量为了测量放大器的输入电阻,按图2-3所示电路在放大器的输入端与信号源的之间串入一已知电阻Rs,在放大器正常工作的情况下,用交流
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