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* 制程能力指数研究 WWW.EM0086.NET * * 目录 何谓CPK, 为什么要研究CPK？ 3-6 CPK的计算公式 7-10 CP与CPK的涵义 11-15 如何通过CPK看制程能力 16-17 应用举例 18-20 提升制程能力的途径 21-22 * * CPK： 一般我们讲CPK时是指“制程能力指数研究” 英文是：Process Capability Analysis LSL USL 离散型与连续型数据能力研究 短期能力研究与长期能力研究 制程能力研究包含以下两方面： * * CPK： 离散型数据 数据收集 在Excel 或Minitab 中分析 能力表示方式DPU，PPM， %不良 连续型数据 数据收集 在Minitab 中 分析 能力表示方式DPU，PPM，CP，CPK，PP，PPK 数据类型 * * CPK： 数据分类 客户要求 1 2 3 4 5 错误个数 合格 （X=3) 缺陷 （X3) 客户要求 50 60 65 80 90 装配时间(分钟) 缺陷 （X80) 合格 （X=80) 离散型 连续型 * * 为什么要研究CPK？ 我们在制程中收集数据进行分析时，经常会问到 “这个制程有足够的能力来生产合格品？”，“它有一个怎样的质量保证能力？” 过程能力指数是度量一个过程加工质量方面的能力或度量一个过程满足客户要求的程度。 ---它焦点在于质量上，而不是数量上--- --通过过程能力指数的研究来评估质量现状 --从过程能力数值可反映出过程不合格PPM --通过研究过程能力来发现质量的改进途径 能力研究的作用： * * CPK的计算公式 UCL-LSL 6 σ Cp= = T 6 σ CPL= μ-LSL 3 σ 为单侧下限过程能力指数 CPU= 3 σ 为单侧上限过程能力指数 USL- μ CPK=Min {CPL，CPU} * * CPK的计算公式 UCL---表示规范限的上限值(上公差) LCL---表示规范限的下限值(下公差) T ---表示规范限的宽度,通常指公差 μ ----表示样本的平均值 σ ---标准差,反映数据的离散程度 * * CPK的计算公式 样本的标准差σ按下面的公式计算而得： σ= 计算CPK时，我们一般选用30-50的样本数。此时称为短期制程能力指数。 样本的平均值 μ 的计算方法如下： μ = (X1 + ‥ + Xn) / n 以上计算 σ 方法是较常用的，也是比较简单的，适用于我们手算。 也可以用Excel和Minitab计算， Excel一般引用函数STDEV * * 用Minitab计算的CPK * * CP与CPK的涵义 CP与CPK都是反映了制程能力的大小，两者又存在怎样的区别呢？ Cp= T 6 σ CPK=Min {CPL，CPU} * * CP与CPK的涵义 --CP反映了过程所能达到最佳的（理论上）状态时的情况，它与公差幅度相关，而不考虑测量值与中心值的偏差。 --CPK反映的是过程实际所处的能力状态，它考虑了测量值与期望值之间所产生的偏差。 --当测量值与期望值相等时，CPK=CP，所以CP总是大于或等于CPK。 --因为在自然界当中，测量值是与期望值相偏离是常见的，相等是少见的。CP---反映理想状态 ，CPK---反映实际状态。所以研究CPK才是真正意义的所在。 但研究CP又有怎样的意义所在呢？ * * CP与CPK的涵义 我们通过三个正态分布图形来理解CPK的涵义 M=μ μ +3σ μ - 3σ LSL M= μ USL 当M = μ，即测量中心值与规范中心值相等，正态分布曲线两边至LSL与USL的距离是相等，超出上下规格线的概率是相等的，即CPL(下限CPK)=CPU(上限CPK) 图一 * * CP与CPK的涵义 当M μ时, μ μ +3σ μ - 3σ LSL μ USL 当M ≠ μ，即测量中心值与规范中心值不相等时，如上图所示,分布右端超出上规格线的概率是大于左端超出下规格线的概率，即我们通常所说的