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X光管 利用高速电子撞击金属靶面产生 X射线的真空电子器件 检测器 检测X射线光子的装置，并能把它的能量按照光子的振幅比例来转化为具有电子能量的脉冲 X光管 利用高速电子撞击金属靶面产生 X射线的真空电子器件 检测器 检测X射线光子的装置，并能把它的能量按照光子的振幅比例来转化为具有电子能量的脉冲 初级滤光器(光源滤光片) 初级滤光器(光源滤光片) 荧光测试原理 根据各元素产生荧光的指纹特征。不同元素，其特征X射线的能量不同。 测试时，横轴：X射线能量（keV） 对应元素种类 纵轴：X射线强度（cps/uA） 对应浓度 注意：同一元素峰高度与含量成正比。但是，不同元素却不能根据峰高度来比较含量大小。因为不同元素其荧光产额不同。 例如：一谱图中，Al峰很低，Hg峰很高，不能因此判断Hg含量高于Al含量。 因为Al为轻元素，俄歇电子产率高（因轻元素原子核外电子束缚较低、相应的特征X射线易被吸收），其荧光产额低，不易出峰， 而Hg为重元素，俄歇电子产率低，其荧光产额高，易出峰。 工作曲线法 工作曲线定量分析步骤：制定分析条件，分析标准样品、登记X射线强度，制作校准曲线，分析未知样品。 分析上限：即工作曲线最高点对应的含量，一般为1200ppm 检出限：即检测下限。将空白样品测试11次，所得标准偏差3倍。 标准工作曲线法漂移校正 标准工作曲线建立或变更后，要及时进行标准化样品的强度登记。 定期用强度登记的同一标准化样品进行测定，以确定标准工作曲线是否发生漂移 当标准化样品测试值不在规定的允许范围内时要进行已登记强度的标准化样品的漂移系数校正 工作曲线不可混用 X射线强度与元素、含量、基体元素，材料尺寸、形状、厚度、测试条件（直径、能量、时间等）有关。 XRF扫描图实例 数据分析和识谱 操作中需特别注意以下问题 （1）X光管开启后预热15min （2）小心保护好校正样品，避免丢失。 （3）避免测试腐蚀性挥发性的液体及强磁性物品 （4）关闭X光管后要冷却5min后关闭电源，保护光管。 （5）XRF光谱仪宜放置于相对独立的环境中，并远离强磁场、强震动和化学试剂存放区域。 （6）避免与溶液测试仪器放置在同一实验室。如和ICP放一起。 * 环境要求 温度：室温、恒温，20-25℃为宜 湿度: 60%以下 震动：没有 环境：清洁 电压：稳定 辐射剂量：符合相关法规要求 具体需符合仪器说明书上的要求 * 数据记录与处理 数据记录与处理 (一)定量分析中的误差 误差是客观存在的。 （一） 误差及其产生原因 误差分为系统误差和偶然误差 1. 系统误差（可测误差）是指在分析过程中由于某些固定的原因所引起的的误差。 特点：可重复出现，误差大小是恒定的，可测定出。 数据记录与处理 系统误差产生原因： （1）方法误差。 （2）仪器误差。 （3）试剂误差。 （4）操作误差。 数据记录与处理 2. 偶然误差（不可测量误差） 指在分析中一些无法控制的偶然因素造成的误差。 特点： （1）大小相近的正误差和负误差出现的概率相等； （2）小误差出现的概率较高，大误差出现的概率较低，很大的误差出现的概率非常小。 过失“误差”。由于工作粗心大意、不遵守操作规程可造成一些差错，如试液溅失、加错试剂、读错刻度、记录错误等。 数据记录与处理 项目 系统误差 偶然误差 定义 由于某些固定的原因所引起的误差 由一些无法控制的因素造成的误差 特点 大小恒定，误差有单向性，可测定出 时大、时小、时正、时负，但随平行测定册数的增加而变小 分类 分四类，方法、仪器、试剂、操作误差 不分类 影响 影响准确度 影响精密度 消除方法 原则上可减小（部分可消除） 不能消除，只能较小 数据记录与处理 （二）、准确度与误差 准确度表示测定结果与真实值相接近的程度，以误差表示。 绝对误差不能确切的反映测定值的准确度。 如分析天平的称量误差为0.0001g，称量2份实际质量为1.5130g及0.1513g的试样，得1.5131g及0.1514g，两者的绝对误差均为+0,07%，但称量的准确度却不同。前者的相对误差为+0.007%，后者的相对误差为+0.07%，显然，被测得量较大时，相对误差就比较小，测定的准确度也就比较高。 绝对、相对误差有正负之分。 数据记录与处理 （三）精密度与偏差 在实际分析工作中，一般要对试样进行多次平行测定，以得到测定结果的平均值。多次测定结果之间相互接近的程度称为精密度，以偏差表示。偏差愈小，精密度越高，也就是测定结果的再现性好。 绝对偏差和相对偏差 相对偏差 数据记录与处理 （四