年级无损检测人员复试专题三特种设备无损检测仪器设备校准或核查的探讨谢常欢.pptVIP

磁场指示器 磁悬液指示灵敏度 设备类型 永久磁铁和电磁轭 提升力重力试块 （用于检查磁力强度） JB4730.4 45N、177N、118N 磁场方向 建议最长 校准/校验间隔 每次检测前 2年 每次检测前 知名制造商的合格证 使用符合相关标准的灵敏度 试片 JB/T 4730.4 3.3.2 校准/校验的工艺或指南以 及所需要的设备 通过测量提升力或拉脱力检 查是否符合相关标准 半年 采用合适的秤重天平校准 使用磁场指示器检查磁场方 向符合相关的标准 最初 3个月 JB/T 4730.4 3.9.1 检测前 使用白光照度计检查照明强 度 每次检测前 非荧光渗透检测 （在检测表面检查白光照度） 使用黑光幅照计检查黑光幅 照度 每次检测前 JB/T 4730.5 3.3.2 检测前 荧光渗透检测 （在检测表面检查黑光辐照度） 符合相关标准的制造商合格 证书 每次检测前 渗透检测剂 校准/校验的工艺或指南以 及所需要的设备 建议最长 校准/校验间隔 设备类型 3、PT检测 校准要求 JB/T 4730.5 3.3.1 检测前 JB/T 4730.5 5.8.3 检测前 第39页 与作参考标准的白光照度计 对比检查 1个月 白光照度计 （在工作中使用） 有资格的校准机构 1年 1年 JB/T 4730.5 白光照度计 （作为参考标准表使用） 与作参考标准的黑光幅照计 对比检查 1个月 黑光幅照计 （在工作中使用） 有资格的校准机构 1年 1年 JB/T 4730.5 黑光幅照计 （作为参考标准表使用） 校准/校验的工艺或指南以 及所需要的设备 建议最长 校准/校验间隔 设备类型 制造商的合格证，或使用适 当的检查方法 最初 r射线曝光量计算器 有衰减图及尺寸记录的档 案，制造商的合格证 最初 放射同位素 BS2600：1983图2和A.8条 款或相关标准 每次检测前 几何不清晰度（当标准有要求时） 按HOKLAS003 之5.6.H（d 条款定义的有资格的校准机 构 10年 针空板（当标准有要求时） （用于检查焦点尺寸） 检查焦点尺寸符合相关的标 准 1年 X射线设备 校准/校验的工艺或指南以 及所需要的设备 建议最长 校准/校验间隔 设备类型 4、RT检测 校准要求 ） 第39页 使用黑度计或黑度片检查黑 度，通过IQI确认底片的影 像质量 每次评片前 射线底片 （胶片处理之后） 胶片处理符合胶片制造商推 荐的方法 每次使用后 射线胶片 （胶片的处理） 符合相关标准的分级 最初 射线胶片 （分级和使用） 符合相关标准的制造商合格 证 最初 像质计（IQI） 检查每批样品未曝光的灰雾 度 最初 射线底片 （每批） 校准/校验的工艺或指南以 及所需要的设备 建议最长 校准/校验间隔 设备类型 放射管理局（Radiation Board）认可的实验室 1年 射线剂量计 强制检定 - 贸易/安全/医疗/ 知名制造商的合格证 JB/T 4730.2 B 2.6 2年 5年 标准黑度片 （作为参考标准） 按照标准黑度片校准 6个月 1个月 JB/T 4730.2 3.4.2 黑度计 校准/校验的工艺或指南以 及所需要的设备 建议最长 校准/校验间隔 设备类型 （二）无损检测仪器设备的校准与核查的要求 为了规范无损检测仪器设备的校准与核查的要求，笔者利用参与中国合格 评定国家认可委员会CNAS CL14：2010《检测实验室能力认可准则在无 损检测领域的应用说明》修改的机会，在CNAS CL14：2010中提出了附 录A“无损检测仪器设备校准或核查要求”：谢常欢 无损检测3级人员 复试讲课稿\CL14 实验室 认可准则在无损检测领域的应用说明.pdf 第40页 方法参照JB/T 4730.2附录B要求。 （ JB/T 4730.2 3.4.2） A.1.3 标准密度片每2年，应进行校准（或内部校准），方法参照JJG 452-1986《黑白标准密度片检定规程》。 （ JB/T 4730.2 B.2.6） A.1.4 个人剂量计、剂量报警仪应按照相关的国家计量检定规程的要求送 计量检定机构检定 。 A.1.5 观片灯的亮度和均匀度，应每年进行核查或校准。 （应满足：黑度D≤2.5时，透过底片的亮度应不低于30cd/m2 ；黑度D＞2.5时，透过底片的 亮度应不低于10cd/m2 ；黑度D＞4.0时，如有计量检定报告证明透过底片的亮度满足要求， 允许评片）。 （JB/T 4730.2 4.10.3 ； 4.11.2 ） HK:1月 HK:5年有效 HK:1年 EN:定期 CNAS CL14：2010《检测实验室能力认可准则在无损检测领域的应用说