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CE_零件工程师教程-RoHS解析

1 筛选测试方法就是用能量散射-X射线荧光光谱仪(EDXRF)或波 长散射-X射线荧光光谱仪(WDXRF)装置对样品中目标物质进行 初步半定量的一种测试手段。 筛选测试方法可以是直接测量样品(不破坏样品),也可以是破坏 样品使其达到“均匀材质”(机械破坏制样)后测试。很多有代表性 的均匀材料(如塑料,合金,玻璃等)样品可以不破坏样品直接进 行定性筛选,而由多种材料组成的复杂样品(如组装印制线路板) 则须进行机械破坏性样品制备。机械破坏性样品制备既适用于定性 筛选也适用于精确检测方法。 样品的定性筛选检测可以用XRF分光计[如EDXRF(能量散射X- 射线荧光)或WDXRF(波长散射X-射线荧光)]进行,XRF尽管 是一种快且节省资源的分析手段,在电子技术工业上有它的优点, 但这种分析技术在获得结果的适用性和应用方面存在一定的局限性。 3.4环保物料的入厂检验 1 3.4.3 样品制备 ROHS测试材料 是否要预 加工处理 手工处理或机 械粉碎原料 满足制样要求 制备样品 N Y Y N 3.4环保物料的入厂检验 1 X射线荧光分析对试料有很严格的要求,这些要求因样品形态不同而 异 1 块状匀质试料 对各种块、板或铸件等不定形试样,可用切割机、研磨机等加工成 一定尺寸的试料。试料的照射面应能代表试料整体。 2 膜状材料 用薄膜材料制备膜状试料时要特别注意薄膜厚度的一致性及组成的

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