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测量结果会怎么样？与真值不一样，还会出现什么？多测，盲侧，多取一些数据出来，你把它排列一下是不是也会呈现出正态分布，是不是这样？测量也是个过程啊，就像你们生产一样，对不对?生产是过程，测量也是个过程，对不对？如果过程参数处于长期稳定受控的状态下，那么在这种状况下测量，那么它会呈现出正态分布。所以，我如果这些测量的数值和下次测量的结果不一致，那就说明什么？不稳定嘛！我们的系统存在测量的差异。所以我们以前讲过的SPC的知识也可运用到测量系统的分析当中去，所以昨天学习过的知识在今天讲的测量系统分析也可以运用，不要把它隔开。 好，接下来我们讲测量系统，那什么是测量系统呢？什么是测量系统，一个测量系统是由再现性和稳定性组成的吧，对不对，测量的原因对不对？还有被测物、标准对不对？那我们来分析一下测量系统，分析就要分析什么，就是这个测量系统，这个测量系统（做游戏时对学员侧的测量数据）变差比较大，那么一个好的测量系统有哪些因素组成呢？ 稳定，精度高，精度高是什么意思，就是分辨率高对不对， 好了，一个好的测量系统还应该有什么要求呢？对了，能识别过程变差，这也是一个很好的，能够识别到过程变差，这有利于对过程进行研究是不是？昨天我们看到怎么识别过程变差啊？简单得从控制图里可以看到吧！那么应该有几层啊，嗯，对了是三层以上，首先要有足够的分辨率，分辨率前几天我们已经涉及到了，那么分辨率是什么意思？就是测量设备最小的刻度。一般来讲电子产品，数显的仪器啊，它的分辨率就是它的最小单位；注意了，机械的测量仪器设备，比如卡尺，它的分辨率不一定就是最小刻度，它的分辨率是最小刻度的一半。好，前面是分辨率，还有一个是敏感度，敏感度是什么概念呢？如果我们用一把尺子来测量纸张的厚度，这说明尺子的分辨率不高，也就是被侧值远远低于测量工具的精度，所以敏感度是相对于被测物的差异、被测物的要求而来的，对不对？所以一把尺子的敏感度好不好是相对于被测物的要求而言的，所以一般来讲测量工具的最小公差应低于测量物的大概范围，否则的话是侧不出数值的，所以敏感度是相对而言的。第二，另外测量系统应该注意要统计的受控，一般情况下什么样的统计受控比较稳定呢？那么我们的测量仪器用于检测产品时，它可能会需要什么？它会要求什么？ …测量系统的变差要小于什么？对了，是公差。这是什么意思？测量系统他会出现什么？线性变差是吧，是不是有变差，对不对？那么这个变差的发生度，应该怎么，小于公差，是不是？是不是小于产品公差，对不对？产品的宽度，多少个Sigma的宽度？一般单边的Sigma在哪边？右边对不对，是不是小于产品的公差？多少个Sigma变差的宽度？大家都除以6个Sigma等于几？Sigma是不是小于1/6的公差，我们的讲的宽度是6个Sigma，所以这个内容就是我们SPC应该了解的。所以这个宽度应该小于测量系统的变差。那么我如果不是检查产品，注意我不是检查产品，那么我们做变差研究、就像昨天讲的，做测量系统分析，做过程研究，初始能力研究，这个时候就需要什么？…那么这个时候用于过程的测量的时候测量系统变差应该小于过程，过程的变差应该用于宽度的检查。测量系统的变差是不是应该小于过程的变差？那测量系统的变差是不是小于过程的变差？这个过程是用于生产产品吧，对不对？就像生产产品的直接的本身的，就像我们说的过程特性、产品特性对不对？这的过程的变差，也是相对于6Sigma来讲的，是不是？你也可以用Sigma来表示，对不对？为什么，是同一个物质，你反复处理是不是不同啊，它是不是出现一个变差啊，它是不是一个Sigma的宽度啊，是不是？那你大大的产品去销售它，那你产品的特性是不是一个变差啊？就像前两天讲的这个过程的变差啊，所以这里应该小于，对不对，不然你怎么测量啊，对不对，这就是我们讲得用于过程的控制测量系统的变差小于过程中产生的变差。这个过程变差指的是什么？ 这个被生产的产品的特性所体现出来的，是不是。那么这就是我们所说的测量系统的一个基本的要求，测量系统我们还要考虑什么？很小，小于多少呢？我们怎么来衡量呢？你总要有一个判定的准则吧.那么判定准则是什么？怎么样去判定呢？这就是我们后面所要讲的一个很重要的问题。好，前面讲的大致的原理都讲过了，我们好好想想。 那么，讲到后面，测量系统的整个生产过程的变差来源是哪些？人、机、料、法等对吧。还有测量对吧，我们现在就是在研究测量在生产过程中产生的变差有多少。是不是这个意思，对吧，如果你测量的那部分占大的话，那说明什么？不能真实地反应过程的变差，所以测量系统的变差应该是很小的一块才对啊，对不对.我们研究测量系统的变差的主要目的是什么？是为了确认生产过程的变差对吧。不至于受到测量系统太大的影响 ，以至于什么，不能判断过程的变差对吧！我们计算的CPK能力不够，结果是你测量系统太差，导致我们的CPK达