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三维计量的探测系统摘要三维参数是最常见的工件质量特性。这些特征一致性测试的测量过程包含着探测表面的重要子过程。一个种类繁多的用于探测不同测量任务的测量系统在车间里，以及在这计量环境，已经发明了。在坐标测量机（CMM）中即使在亚微米范围内，探测系统必须保证感应操作重复性。本文介绍要求、不同的原则和接触测量系统在三维计量的参数，与一些探测系统，这一系统在实践中使用的例子。关键词：三维计量，探头，三坐标测量机（CMM）1任务，目的和测量的基础知识。对工件的长度测量是比较两个表面点的实际长度与标准[1]的距离。对一个工件的几何量测量（例如大小，两架飞机或两轴直接的距离，圆的直径，外形的偏差，垂直度，跳动，粗糙度等等）几何量来衡量一个工件的距离，是指选定的测量点对工件的真实面的位置和距离。因此，有必要通过用传感元件（如：笔尖）触碰在实际表面的所需点，或则通过非接触式传感方式对实际表面所需的点[2][3][4]（如：运用多种光学效应），并且测量其位置参照其他表面的实际点或以某种方式定义的基准点，基准或基准系统 - 从实际面而得。该组件连接参照点与工件的表面点成的测量电路是探测系统（图1）。该探头是坐标测量机（CMM）[5]或三维测量仪器的最重要元件之一，是为一个测量的整体的准确性负责。即使在恶劣的环境中和一切影响的存在如工件材料，表面地形，温度，振动，动力学，探测系统也必须确保检测子进程在亚微米范围内[6]的重复性。最合适探测工件的尺寸测量常见的是接触和光学探测系统。由于探测系统任务的一般性和种类繁多的实施方法，本文无法处理所有的。因此，重点是限于测量范围从亚微米到数毫米不等的触觉探测系统的坐标测量。他们的工作主要是基于一个与工件的机械作用，并且他们通常在多个方向测量。光学和大范围探测和测量系统是被描述在2002年沙特电信P主题论文【7】、【8】中。一个探测系统的主要任务是阐述了一维探测系统：?一个工件的长/高的完整测量（一维（1D），偏转法），图2a。?通过旋转【10】、【11】、【12】或则转换工件或则探测系统，测量从一个标准的工件或则从理想的形状【9】（圆或直线）的偏差的尺寸之间的区别。在这种情况下，固定部分（不论工件还是探测系统）必须被放置在一个特定的位置和方向上（一维，差分法），图2b。一个表面点和一个或多个外部长度测量系统【13】、【14】之间的联系例如：高度（一维）测量装置，图2c、图3。通过轴的数量，探测系统通常被提及，这里他们能操作。他们被分为：?一维（1D）?二维（2D）及?三维（三维）操作系统。大多数情况下它们的功能特性均来自于一个直角，圆柱或球坐标系统。一维探测系统是在一个方向灵敏。二维系统是在一个平面灵敏。在三维空间中的小费球在空间的任意位移都被测量。在特殊情况下：2 ?e探测系统是在飞机上敏感，且只有有限的灵敏度/测量范围垂直于这架飞机。图2：一维探测系统的目的。（a：高度的完整测量，b：差异或偏差测量，c：联动一个长度（高度）测量系统）图3：坐标系里的探测系统。（b：提示校正向量；rm:探测点的位置向量在机械坐标系）探测点在机械坐标系中的位置向量rm是该探测系统参考点rr的位置向量的和，改探测系统的位置向量rp到球的中心点，并且向量b从中心点到实际接触点（图3）。当一个三维坐标系（xw,yw,zw）在工件定义，从机械坐标系转换成工件坐标系后，所有的测量点就可以作为rw输出。多参考点的位置的能被进行三维测量，例如通过三坐标测量机，激光跟踪仪或多点定位系统。【15】。因此，机械坐标系统可以成为卡迪尔（所有的三坐标测量机）或则球形（如激光跟踪仪【16】）。一个接触探测系统必须至少有以下特点（图4），以满足其要求：?一个接触元件，以建立一个与工件的相互作用（如针尖球【17】）?一个转换设备，将关于相互作用的信息从接触元件传给传感器（如触笔轴）。?一个能量产生元件（暂停），以产生一种定义的探测力（如弹簧）?一个传感器感应接触元件与工件（例如电器开关）的相互作用。?一个输出传递信息为触发长度测量装置（如规模）或进一步处理（如弯曲校正，考虑到合格的球头半径，仪器软件的评估）。响应特性q=Rs (1)q：探测系统的输出信号R：响应S：球尖的位移矢量描述了测量性能。探测系统能安装在一个固定位置或者在具有测量系统[18]位置（图4）的传动装置，以满足确定有关外部数据（如三坐标测量机）的瞬间位置。图4：2?e探测系统的基本配置。如果球尖位置的测量尽可能的直接接触，那么该测量就更可靠。这是因为任何一种传输导致偏差和过滤。注：探测点（如就签上）和检测点之间的距离应该尽可能短。为了达到最佳的动态性能，这两点之间的质量（绝对量，转动惯量）应该尽可能低。最常见的直接测量的例子是韦斯光纤探针（参加，4）和尖探头雷尼绍（参加，3,1），