第四章X射线衍射方法分析.ppt

第一篇 X射线衍射 第四章 X射线衍射方法 ◆ 单晶体衍射方法 ◆ 多晶体衍射方法 　 德拜-谢乐法 　 X射线衍射仪  倒易点阵中的一个过原点的倒易面与正点阵中的一个晶带相对应，倒易面与干涉球相交，交线为圆。 ◆ 衍射斑点的指数化及晶体位向确定 1）利用吴氏网、透明纸，作衍射斑点及参考坐标的极射赤面投影。 2）根据衍射规律，选定并以某一低指数面为新投影面，将极射赤面投影转换为新投影面。 3）将新投影面的投影点与标准投影图对照，确定新投影面指数、衍射斑点指数，利用吴网测定晶面间、晶面与参考坐标的夹角。 3.衍射仪 利用一般衍射仪测单晶取向时需要一个特殊的试样支架，它使试样具绕三个轴转动。如找Si的(111)面，先算出其衍射角，将探测器固定在该衍射角2θ位置不动，并将试样沿其支架上的三轴转动，便探测器获最大衍射强度，此时，BB’轴方向即为(111)面法线方向，从而确定了(111)面的取向. ◆ 德拜相的拍摄---底片安装 ◆ 德拜相的拍摄---试样制备 1)????? 试样: 粉末圆柱体.×10mm, 粉末颗粒10－5 --- 10－3cm. 2）试样制备: 材料→研磨成粉→过筛→退火去应力;用0.05—0.08mm、涂胶水的玻璃丝在粉末上均匀滚动或将粉末充填于0.5mm的非晶毛细石英管中. ◆ 德拜相的拍摄--规程的选择 ?1）X射线管阳极元素：Z靶＝Z试样＋１ ?2）滤波片：滤波片原子序数低于靶元素原 序数1(Z靶＜40＝或2(Z靶≥40)的元素 3）管电压：临界电压的3~5倍 3） 管电流：额定功率的除以管电压 4）曝光时间：依材料而定。 ◆ 德拜相机的误差修正--试样吸收 德拜相机的误差修正--底片伸缩误差 掠射角为θ，可以根据弧对间距2L（2R 为相机直径）求得 900(透射区) 900(背射区) 注： 如果底片未贴紧相机内径相、机半径误差、 底片冲洗干燥后伸缩 ，对此要加以校正。 德拜相机的误差修正 采用偏装法,测定相机的有效周长C0 ， ◆ 德拜相的分析 利用德拜相可以进行晶体结构分析、晶格常 数测定、物相定性分析. 1.晶体结构分析 1).晶体结构确定 立方晶系 对于同一底片上同一物相 为常数.故 = = = 2).弧对衍射花样的指数化 根据已确定的晶体结构、N的比值、晶面间距公式,可确定各弧对的晶面指数,也可参照列表 3).晶格常数确定 在晶面指数化后,取高角度的衍射面,根据立 方晶系 求a 2.物相定性分析 利用 定性分析物相 ◆ 德拜相的分析过程 （1）?????? 对弧标号 （2）?????? 测量有效周长 （3）?????? 测量并计算弧间距 （4）?????? 计算θ （5）?????? 计算d （6）?????? 估计各条线的相对强度 （7）?????? 查卡片 （8）?????? 标注衍射线指数 （9） 计算点阵参数 ◆ X射线测角仪 X射线测角仪----构造 X射线测角仪----衍射几何 满足布拉格方程: 试样置于测角仪中心,绕中心轴连续转动,使瞬时dHKL、λ、θ三者满足布拉格关系的(HKL)产生衍射线.试样由低角度到高角度转动,使所有能参与衍射的晶面衍射 　　 连动: 试样表面处在入射线和衍射线的反射位置上,确保狭缝光阑、探测器处于衍射方向,接收相应晶面的衍射线. 聚集圆: 入射线管焦斑S、被照射的试样表面MON、反射线的会聚点F(狭缝光阑)位于同一聚集圆上,确保反射线在F点聚焦接收 注: 多晶体中晶粒取向混乱,在入射线照射到试样表面的大量晶粒时,只有那些平行于试样表面、满足布拉格方程的晶面产生衍射线,而且反射是瞬时的.而其它晶面虽满足布拉格方程,但与试样表面不平行,产生的衍射线不能会聚于狭缝光阑而接收.可见衍射仪接收的衍射线强度小于德拜法. 　X射线测角仪----试样 根据聚集圆原理,试样应为与圆相吻的弧面,实际上为制造方便,采用平板试样.将粉末试样放在20mm×15mm×2mm的样品框中,填平、压紧、刮平.粉末颗粒大小适中,过粗难压紧成型,且照射的颗粒少,衍射强度不稳定.过细使衍射线宽化,并妨碍弱线的出现. 　X射线测角仪----光学布置 　X射线测角仪----弯晶单色器 作用：消除线，降低因连续X射线和荧光辐射产生的背底 原理：将单色器置于衍射线光路上，试样与接收狭缝之间选单晶体的某个反射能力强的晶面平行于外表面，由试样衍射产生的衍射线