DEM实习4.docVIP

DEM实习4：插值分析（IDW方法） 一、反距离权重插值（Inverse Distance Weighted，简写IDW） 1、原理：通过对某点邻近区域的每个点的平均运算来确定该点的属性值。距离预测点越近的点，其权重越大；反之，越小。权重计算方法： 假设：Zx为需要估算的高程值，Z1,Z2,Z3为采样点已知的高程值并且参与Zx的高程估算待测点与采样点的直线距离分别为d1,d2,d3，选择幂为2.那么： 其中， 这种计算方法使得距离远的点权重变小，而且所有权重之和为1. 2、特点：插值结果不会产生比最大值大、比最小值小的数值。或者说，插值结果在选取的参考点的最大值和最小值之间。插值表面显得平缓。 3、适用情况：样本点较多且分布均匀的情况。 4、分类：IDW属于逐点插值法。又可细分为固定搜索半径IDW插值和可变搜索半径IDW插值。 二、固定搜索半径IDW插值（保证包含最小数目前提下） 需要规定插值时样本点的最小数目和搜索半径，两个参数同时约束。但最小数目是必须的，搜索半径是可变的。 （1）当搜索半径内的样本数达到最小数目时，那么搜索半径内的所有样本点（大于或等于最小样本数）都参与插值运算（搜索半径内的点数不一定刚好就是最小数目）； （2）当在搜索半径内没有达到最小样本点数目时，搜索半径会扩大，以满足最小数目。这时，变化后的搜索半径内也可能有大于或等于最小样本数的样本点参与运算。 总之，对每个点的插值所选用的样本点数是不同的，但都大于等于最小样本数。一般来说，如果样本点的数目充足，空间分布较为规范，搜索半径一般也就不会自动扩大，参与运算的点数也就相当，可选用固定搜索半径IDW方法。 1、启动ArcScene; 2、激活并打开3Danalyst 工具栏； 3、添加实验数据：wells.shp; 4、在3danalyst工具栏选择3danalyst|interpolate to raster| inverse distance weighted 5、打开IDW对话框： 6、输入参数： （1）Input points: 默认为已经打开的点数据文件wells。也可以打开其他的点数据文件； （2）z value field:选取要插值的字段：这里选取well_dpth，表示地下水位深度； （3）power（幂）：指定较高的幂，将增强最近样本点的作用；而随着距离的增大，样本点的作用迅速降低，这样就减少了插值的平均程度。如果指定较低的幂，远处的点也具有较大的影响作用，可得到一个较为平滑的表面。默认值为2. （4）search radius type:选择fixed; （5）distance（搜索半径）：默认为将要输出栅格大小的5倍； （6）minimum number of points: 默认为0，一般认为4~10个比较合适； （7）Use barrier polgylines（中断线）：用来限制搜索样本点的线性数据集。可以设想为山脊线、断裂线等。在插值时，只能使用中断线同侧的样本点（或理解为这些样本点必须是通视的）。在TIN中就是约束线段。 （8）output cell size: 插值的结果是栅格图像。栅格大小（每个栅格的边长）默认为样本点之间最短距离除以250.根据需要可自行设定。 （9）保存插值结果，选定保存路径。比如：存放在DEM实习4文件夹。 7、点击OK。即可生成插值图。 三、可变搜索半径IDW插值 样本数是固定的，但是为了达到这个样本数，则搜索半径是可变的。另外，当指定最大搜索半径时，如果达到了这个半径还没有达到规定的样本数，那么半径也不再扩大，而使用这个半径范围内实际的样本数。 一般情况，如果输入的样本数较少且呈随机分布，就是用可变搜索IDW插值方法。 1、启动ArcScene; 2、激活并打开3Danalyst 工具栏； 3、添加well数据层； 4、在3danalyst工具栏选择3danalyst|interpolate to raster| inverse distance weighted 5、在打开的对话框中输入如下图所示参数： 6、点击OK；显示如下插值结果： （本实验将插值结果保存在实验4文件夹，文件名为varidw001） 四、插值结果查询 1、默认运用等间隔方法（equal interval）将插值结果分为9类；还可以进行重分类（在其他实验讲述）； 2、插值表面的任意一点都可以查询三维坐标； （1）在快捷工具栏点击信息查询按钮（identify）; （2）在插值表面点击任意一点，出现信息框；从中可知，该点的二维坐标为（401156.380474，3771453.28250