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量測Clamping Diode測試原理 由於輸入端為MOS的gate，gate為一“金屬-SiO2”的電容，其中SiO2為一薄膜，若gate的電壓太高， 如靜電，將會產生大電場而擊穿此SiO2薄膜，故須對gate端作限壓，乃加入DIODE，但當PIN的 電壓過高時，易將DIODE燒燬(∵有大電流流經DIODE)，故常在gate端串接電阻作限流， 以保護DIODE即“以DIODE保護MOS的gate“而”以RS保護DIODE“,此RS由IC製程中所作出 ，通常為數百Ω至數KΩ，誤差很大 (∵IC的製程不易做出準確的電阻，且此RS只是作保護，不須準確) Clmaping Diode TEST即利用此DIODE特性，來判斷IC的PIN有無空焊方法為於控制板中產生電壓(依輸入值)源送出，而為防止負載短路，須加限流(3mA)，同時於控制板中量回負載電壓(與量電阻的Vx方式相似)，由於RS的誤差大，且隨各廠牌而異. 故對Clamping Diode的量測值需取較大的誤差此電壓源為可調式，通常以一DAC(數位-類比轉換器)來完成，由於須由程式控制. 故此可調式電壓源置於控制板內，同時量回Vx的方式與量電阻相似，故由控制板量測Vx值。 人有了知识，就会具备各种分析能力， 明辨是非的能力。 所以我们要勤恳读书，广泛阅读， 古人说“书中自有黄金屋。 ”通过阅读科技书籍，我们能丰富知识， 培养逻辑思维能力； 通过阅读文学作品，我们能提高文学鉴赏水平， 培养文学情趣； 通过阅读报刊，我们能增长见识，扩大自己的知识面。 有许多书籍还能培养我们的道德情操， 给我们巨大的精神力量， 鼓舞我们前进。 * ICT静态部分基础知识讲解 Open,Short測試原理 電阻測試原理 電容測試原理 电感量测原理 JUMPER測試原理 Clamping Diode測試原理 一. Open,Short測試原理 由圖所示，其RX 是為待測物，由系統送出0.2V，內阻為20 OHM 之訊號，再用電壓表量測待測兩端之電壓，而待測物的阻值可經由下列公式反求之。 我們令待測物之電阻為RX，待測物上之電壓為VRX，所以待測物之電阻計算如下列公式所示：RX=20*Vrx/(0.2-Vrx) (1)為什麼使用短路群(Short Group) 電路板之短路測試是要測試出待測電路板上不被預期的(Unexpected)短路現象，而待測電路板上通常亦有一些預期的(Expected)短路，如Jumper、Fuse或小電阻、電感等小於短路Threshold之元件存在。故可藉由學習的過程中，將預期的短路形成一短路群，其功能如下 節省測試程式準備時間,加快測試速度 另一方面，電路板之開路測試是要測出待測電路板上預期(Expected)短路的元件是否因錯件或漏件而造成開路，例如下列之元件即可在開路測試中，測出是否為開路。 ．Fuse．小於短路Threshold之小電阻．Jumper Inductors．Traces．Cable (2)如何形成短路群 短路群學習時會將預期(Expected)短路形成短路群，但其判斷的準則為何？ TR-8001在學習短路群時，將由起始針號開始，循序尋找與此針號之阻抗小於Raw THD之針點，形成一短路群。 例1： 10 6 10 15 15 4 1 Raw THD = 25 則短路群為 ＜1,6,10＞ ＜4＞ (3)說明 1.針號1為短路群1,6,10之最小針號，則針號6及針號10與針號1之等效阻抗皆須 小於25ohm(Raw THD)。 2.針號4及針號10之阻抗小於25ohm(Raw THD)，但因為針號10已與針號1屬於同一短路群，且針號4及針號1之阻抗大於25ohm，所以針號4並不屬於此一短路群。 短路測試原理 以下再次詳細說明TR-8001短路測試之原理。TR-8001進行短路測試時，分為粗測(Raw Test)及細測(Fine Test)二階段： 粗測(Raw Test)，某一短路群與其他針點間之阻抗小於Raw THD，即記錄此短路群有可疑短路針點(Suspicious Short)。 細測(Fine Test)，將粗測後之可疑短路針點兩兩對測，以找出是否有小於短路Threshold之真正短路。 (4) OpenShort常見故障分析 在同一短路群中,如果任意兩點間的阻抗大于55ohm,則為開路不良. 非同一短路群之任意兩點間的阻抗小于5ohm,則為短路不良. 1.Open:依據Open Fail時的提示判斷開路的針點.例如:11 11 123 125 200則是Nail 11開路,一般短路群中有2個以上針點,則可以判斷為顯示出來的點未接觸好.但如果一個短路群僅有2個點,