热敏电阻总结.docVIP

热敏电阻测温度 1.系统功能： 利用热敏电阻作为媒介元件，测环境温度 2.性能指标： 本系统是一款体积小，供电电压只需5V，测量温度范围0~65摄氏度。具有操作简单，使用灵活的特点， 热敏电阻器是敏感元件的一类，按照温度系数不同分为正温度系数热敏电阻器（PTC）和负温度系数热敏电阻器（NTC）。负温度系数热敏电阻器（NTC）温度越高时电阻值越低， 3.操作步骤： 本系统操作简单，只需接通5v电源，便可测其环境中得温度。 4.方案论证： 方案一：测量热敏电阻的阻值变化可用C8051F330的比较器（Comparator_A ）和定时器（Timer_A）。测量电路只需要一个参考电阻和一个电容再加热敏电阻就能实现，如图 所示。 将Comparator_A的CA0 端接外部信号，CA1 端接内部参考电压0.25 Vcc。Timer_A 工作在捕获模式，下降沿捕获，通过CCI1B 捕获CAOUT。先使P1.2 端口输出高电平，通过Rref给电容C充电。充电完毕时，CA0 端电压高于CA1 端电压，CAOUT 输出1。读Timer_A 的计数值t0。然后再使P1.1 端口输出低电平，电容C通过Rref放电， 当CA0 端电压降至0.25 Vcc时，Comparator_A 输出翻转，CAOUT 输出0，Timer_A 通过捕获到下降沿，触发定时器中断，读出捕获值t1。C6通过Rref放电到0.25 Vcc的时间time_ref = t1-t0。再对热敏电阻Rsens充电和放电， 同样测出C6通过Rsens放电到0.25 Vcc的时间time_sens。由下面的公式可以计算出热敏电阻（Rsens）的阻值。 方案二：利用8951单片机 其工作原理为：1.先将P1.0、P1.1都设为低电平输出，使放电至放完。2.将P.0、P.1设置为输入状态，P1.0设为高电平输出，通过R电阻对C充电，单片机内部计时器开始计时，检测P.0口状态，当P.0口检测为电平时，，单片机计时器记录下从开始电到P.0口转变为电平的时间T。3.4.从电容的电压公式：可以得到：T／R＝T／R，即??R＝T×R0／T=0.7RtC 其放电时间t2==0.7RtC 多谐振荡器的周期t为t=t1+t2=1.4RtC,由于Rt随温度的变化而改变，因此只要求出振荡周期就可以得到Rt，进而求出温度值。 综上所述：采用方案二制作，因为方案二，不仅电路成本小，而且电路简单，便于与超声波测距模块相结合，作为超声波测距的温度补偿。 5.系统框图: 6.遇到的问题和解决的办法： 首先要先进行方案的论证，当选定方案之后，要进行硬件上的验证，当选择方案二时，由于在之前不了解单片机端口的特性，因此单单套用如下图所示的原理图，是无法完成温度的测量的。 上面电路的原理假设P1.1和P1.2为输入状态，通过使P1.0为输出高电平给电容充电，直至为电容充满，此时使P1.0为低电平，同时打开定时器且一直对P1.2脚进行检测，判断P1.2脚是否为低电平，当检测到低电平时，停止计时，设计时的时间为Tt。按同样的道理设置P1.1进行计时，同样计时的时间记为T1。根据公式可得热敏电阻的阻止为（R1为精密电阻，选择为10KΩ）。 但是由于我们所使用的单片机是STC系列的。分析发现会觉得其端口的P1，P2，P3的I/O口无法实现上述的原理是因为51单片机的I/O口内部除了P0口之外，都接有上拉电阻，因此必然会对于电容的充放电会有所影响的。其影响过程是例如假设电容已经充饱电，此时当使P1.0为低电平时，电容通过电阻R1放电，此时用定时器检测电容放电的时间，由于在电容放电的过程中因为P1.1为高电平，并且P1.2内部还有上拉电阻，所以当电容通过P1.0放电的同时，又会造成P1.1和P1.2对电容充电，因此用单片机的I/O口无法完成电容的放电时间的检测。 在51单片机中，P1，P2，P3口都接有上拉电阻，因此必定会对电容的放电有所影响。不过对于P0口（其端口电路如下图所示），当P0端口作为数据/地址总线使用时（用于外部RAM的访问），此时其电路输出驱动的形式是推挽输出。。 而当将P0口作为输入输出端口使用时，由于T1管是截止的，因此其输出是漏极开路输出的形式，当将其作为输入口使用时，只需要设置为T2为截止，即向锁存器写1，这时P0.X相当于悬空，可以实现不影响电容的放电，这样检测电路的部分就可以完成了。 为了检测电容的放电时间必须要用到P0口，对于电容的充放电就采用P1口，此时肯定是不可能用到P0口的，因为此时的P0口是漏极开路的形式，根本就无法提供电流给电容进行充电。同时又为了能让精密电阻对电容的充放电和通过温敏电阻对电容充放电互不干扰，还需要将其分开成两个部分。所