連续离散实验报告.docVIP

控制系统实验报告 权 第一章： 1.1线性系统的时域分析 1.1.1实验目的 1.熟悉并掌握TD-ACC设备的使用方法及各典型环节模拟电路的构成方法。 2.熟悉各种典型环节的理想阶跃响应曲线和十几阶跃响应曲线。对比差异分析原因 3.了解参数变化对典型环节动态特性的影响 1.1.2实验设备 PC机一台，TD-ACC+试验系统一套 1.1.3实验原理及内容 列出个典型环节的方框图，传递函数，模拟电路图，阶跃响应，熟悉了解。 1.1.4实验步骤 1.按所列举的比例环节模拟电路图将线接好。检查无误开启电源。 2.将信号源单元的ST端插针与S端插针用短路块短接。将开关设在方波档，分别调节调幅和调频电位器，使OUT端输出的方波值为1V，周期为10S左右。 3.将2中的方波信号价值环节的输入端UI，用示波器的CH1和CH2表笔分别检测模拟电路的输入UI和输出U0端，观测输出端的实际响应曲线，记录实验结果及波形。 4.改变几组参数，重新观测结果。 5.用同样的方法分别搭接积分环节，比例积分环节，比例微分环节，惯性环节和比例积分微分环节的模拟电路图。分别记录实验波形及结果。 1.1.5实验结果 步骤2输出 比例环节 比例积分 比例微分 单位阶跃 惯性 积分 积分微分 1.2典型系统的时域响应和稳定性分析 1.2.1实验目的 1.研究二阶系统的特征参量 (ξ、ωn) 对过渡过程的影响。 2．研究二阶对象的三种阻尼比下的响应曲线及系统的稳定性。 3．熟悉Routh 判据，用Routh 判据对三阶系统进行稳定性分析。 1.2.2实验设备 PC 机一台，TD-ACC+(或TD-ACS)教学实验系统一套。 1.2.3实验原理及内容 典型的二阶，三阶系统稳定性分析 1.2.4实验步骤 将信号源单元的“ST”端插针与“S”端插针用“短路块”短接。由于每个运放单元均设置了锁零场效应管，所以运放具有锁零功能。将开关设在“方波”档，分别调节调幅和调频电位器，使得“OUT”端输出的方波幅值为1V，周期为10s 左右。 2. 典型二阶系统瞬态性能指标的测试 (1) 按模拟电路图1.2-2 接线，将1 中的方波信号接至输入端，取R = 10K。 (2) 用示波器观察系统响应曲线C(t)，测量并记录超调MP、峰值时间tp 和调节时间tS。 (3) 分别按R = 50K；160K；200K；改变系统开环增益，观察响应曲线C(t)，测量并记录性能指标MP、tp 和tS，及系统的稳定性。并将测量值和计算值进行比较 (实验前必须按公式计算出)。将实验结果填入表1.2-1 中。表1.2-2 中已填入了一组参考测量值，供参照。 3．典型三阶系统的性能 (1) 按图1.2-4 接线，将1 中的方波信号接至输入端，取R = 30K。 (2) 观察系统的响应曲线，并记录波形。 (3) 减小开环增益 (R = 41.7K；100K)，观察响应曲线，并将实验结果填入表1.2-3 中。表1.2-4 中已填入了一组参考测量值，供参照。 1.2.5实验结果 1.3线性系统的校正 1.3.1实验目的 1．掌握系统校正的方法，重点了解串联校正。 2．根据期望的时域性能指标推导出二阶系统的串联校正环节的传递函数。 1.3.2实验原理 所谓校正就是指在系统中加入一些机构或装臵 (其参数可以根据需要而调整)，使系统特性 发生变化，从而满足系统的各项性能指标。按校正装臵在系统中的连接方式，可分为：串联校 正、反馈校正和复合控制校正三种。串联校正是在主反馈回路之内采用的校正方式，串联校正 装臵串联在前向通路上，一般接在误差检测点之后和放大器之前。本次实验主要介绍串联校正方法 1.3.3仪器设备 PC机一台，TD-ACC+(或TD-ACS)教学实验系统一套。 1.3.4实验步骤 1. 将信号源单元的“ST”端插针与“S”端插针用“短路块”短接。由于每个运放单元均 设臵了锁零场效应管，所以运放具有锁零功能。将开关设在“方波”