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自动化原理实验报告解析
自动化控制原理实验报告一、典型系统的时域响应和稳定性分析 一、 实验目的1.研究二阶系统的特征参量(ξ、ωn)对过渡过程的影响。2.研究二阶对象的三种阻尼比下的响应曲线及系统的稳定性。3.熟悉Routh判据,用Routh判据对三阶系统进行稳定性分析。4. 学习用电路系统研究一般控制系统的仿真实验方法二、 实验设备PC机一台,Matlab,Multisim (或PSpice)。三、 实验原理及内容 1.典型的二阶系统稳定性分析(1) 结构框图:见图2-1图2-1(2) 对应的模拟电路图图2-2(3) 理论分析系统开环传递函数为:;开环增益。(4) 实验内容先算出临界阻尼、欠阻尼、过阻尼时电阻R的理论值,再将理论值应用于模拟电路中,观察二阶系统的动态性能及稳定性,应与理论分析基本吻合。在此实验中(图2-2),, ,系统闭环传递函数为:其中自然振荡角频率:;阻尼比:。2.典型的三阶系统稳定性分析(1) 结构框图图2-3(2) 模拟电路图图2-4(3)理论分析系统的开环传函为:(其中), 系统的特征方程为:。(4)实验内容实验前由Routh判断得Routh行列式为:S3 1 20S2 12 20KS1 (-5K/3)+20 0S0 20K 0为了保证系统稳定,第一列各值应为正数,所以有 得: 0 K 12 R41.7KΩ 系统稳定 K = 12 R = 41.7KΩ 系统临界稳定 K12 R 41.7KΩ 系统不稳定四、 实验步骤1. 实验中阶跃信号幅值为1V左右。2. 典型二阶系统瞬态性能指标的测试(1)按模拟电路图,将阶跃信号接至输入端,取R = 10K。(2)用示波器观察系统阶跃响应C(t),测量并记录超调MP、峰值时间tp和调节时间tS。(3) 分别按R= 50K;160K;200K;改变系统开环增益,观察相应的阶跃响应C(t),测量并记录性能指标MP、tp和tS,及系统的稳定性。并将测量值和计算值进行比较(实验前必须按公式计算出)。并将实验结果填入表2-1中。表2-2中已填入了一组参考测量值,可供对比用。4.典型三阶系统的性能(1) 按图2-4接线,将阶跃信号接至输入端,取R = 30K。(2) 观察系统的阶跃响应,并记录波形。(3) 减小开环增益(R = 41.7K;100K),观察阶跃响应,并将实验结果填入表2-3中。表2-4中已填入了一组参考测量值,可供对比用。五、 实验现象分析1.典型二阶系统瞬态性能指标实验参考测试值见表2-2表2-2参数项目R(KΩ)KωnξC(tp)C(∞)Mp (%)tp (s)ts (s)阶跃响应情况理论值测量值理论值测量值理论值测量值0ξ1欠阻尼1020101.4144430.320.381.61.5衰减振荡5041.1111100.850.91.61.7ξ=1临界阻尼1602.51无1无无1.92.5单调指数ξ 1过阻尼2001无1无无2.93.5单调指数其中, ,,2.典型三阶系统在不同开环增益下的响应情况实验参考测试值见表2-4表2-4R(KΩ)开环增益K稳定性3016.7不稳定发散41 .712 临界稳定等幅振荡1005稳定衰减收敛.实验仿真图像:典型二阶系统:Simulink仿真:Multisim仿真:R=10K:R=50K:R=160K:R=200K:随着R的增大,系统开环增益发生变化,系统稳定性逐渐提高;典型三阶系统:Simulink仿真:Multisim仿真:R=30K:(时基标度为200ms/Div)R=41.7K:R=100K:通过仿真图形可以看出,当R=41.7K时,其系统稳定性接近稳定大鹏展等幅度振荡。二 线性系统的根轨迹分析1. 确定图3系统的根轨迹的全部特征点和特征线,并绘出根轨迹已知图3系统的开环传函为:(其中),R=30、41.7、100程序:%确定图三的根轨迹部特征点和特征线,并绘出根轨迹R1=30;num1=500/R1;den=conv(conv([1 0],[0.1 1]),[0.5 1]);sys1=tf(num1,den);%开环系统传递函数roots(den);figure(1)pzmap(sys1);%绘制零极点分布图figure(2)rlocus(sys1);sgrid;%绘制根轨迹rlocfind(sys2);零极点图:根轨迹图:R2=41.7;num2=500/R2;den=conv(conv([1 0],[0.1 1]),[0.5 1]);sys2=tf(num2,den);roots(den);figure(1)pzmap(
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