自动化原理实验报告解析.docx

自动化控制原理实验报告一、典型系统的时域响应和稳定性分析 一、 实验目的1．研究二阶系统的特征参量（ξ、ωn）对过渡过程的影响。2．研究二阶对象的三种阻尼比下的响应曲线及系统的稳定性。3．熟悉Routh判据，用Routh判据对三阶系统进行稳定性分析。4. 学习用电路系统研究一般控制系统的仿真实验方法二、 实验设备PC机一台，Matlab，Multisim (或PSpice)。三、 实验原理及内容 1．典型的二阶系统稳定性分析(1) 结构框图：见图2－1图2－1(2) 对应的模拟电路图图2－2(3) 理论分析系统开环传递函数为：；开环增益。(4) 实验内容先算出临界阻尼、欠阻尼、过阻尼时电阻R的理论值，再将理论值应用于模拟电路中，观察二阶系统的动态性能及稳定性，应与理论分析基本吻合。在此实验中(图2－2)，， ，系统闭环传递函数为：其中自然振荡角频率：；阻尼比：。2．典型的三阶系统稳定性分析(1) 结构框图图2－3(2) 模拟电路图图2－4(3)理论分析系统的开环传函为:(其中)， 系统的特征方程为:。(4)实验内容实验前由Routh判断得Routh行列式为：S3 1 20S2 12 20KS1 (-5K/3)+20 0S0 20K 0为了保证系统稳定，第一列各值应为正数，所以有 得： 0 K 12 R41.7KΩ 系统稳定 K = 12 R = 41.7KΩ 系统临界稳定 K12 R 41.7KΩ 系统不稳定四、 实验步骤1. 实验中阶跃信号幅值为1V左右。2. 典型二阶系统瞬态性能指标的测试(1)按模拟电路图，将阶跃信号接至输入端，取R = 10K。(2)用示波器观察系统阶跃响应C(t)，测量并记录超调MP、峰值时间tp和调节时间tS。(3) 分别按R= 50K；160K；200K；改变系统开环增益，观察相应的阶跃响应C(t)，测量并记录性能指标MP、tp和tS，及系统的稳定性。并将测量值和计算值进行比较（实验前必须按公式计算出）。并将实验结果填入表2－1中。表2－2中已填入了一组参考测量值，可供对比用。4．典型三阶系统的性能(1) 按图2－4接线，将阶跃信号接至输入端，取R = 30K。(2) 观察系统的阶跃响应，并记录波形。(3) 减小开环增益（R = 41.7K；100K），观察阶跃响应，并将实验结果填入表2－3中。表2－4中已填入了一组参考测量值，可供对比用。五、 实验现象分析1．典型二阶系统瞬态性能指标实验参考测试值见表2－2表2－2参数项目R(KΩ)KωnξC(tp)C(∞)Mp (%)tp (s)ts (s)阶跃响应情况理论值测量值理论值测量值理论值测量值0ξ1欠阻尼1020101.4144430.320.381.61.5衰减振荡5041.1111100.850.91.61.7ξ＝1临界阻尼1602.51无1无无1.92.5单调指数ξ 1过阻尼2001无1无无2.93.5单调指数其中， ，，2．典型三阶系统在不同开环增益下的响应情况实验参考测试值见表2－4表2－4R(KΩ)开环增益K稳定性3016．7不稳定发散41 .712 临界稳定等幅振荡1005稳定衰减收敛.实验仿真图像：典型二阶系统：Simulink仿真：Multisim仿真：R=10K：R=50K：R=160K：R=200K：随着R的增大，系统开环增益发生变化，系统稳定性逐渐提高；典型三阶系统：Simulink仿真：Multisim仿真：R=30K：（时基标度为200ms/Div）R=41.7K：R=100K：通过仿真图形可以看出，当R=41.7K时，其系统稳定性接近稳定大鹏展等幅度振荡。二 线性系统的根轨迹分析1. 确定图3系统的根轨迹的全部特征点和特征线，并绘出根轨迹已知图3系统的开环传函为:(其中)，R=30、41.7、100程序：%确定图三的根轨迹部特征点和特征线，并绘出根轨迹R1=30;num1=500/R1;den=conv(conv([1 0],[0.1 1]),[0.5 1]);sys1=tf(num1,den);%开环系统传递函数roots(den);figure(1)pzmap(sys1);%绘制零极点分布图figure(2)rlocus(sys1);sgrid;%绘制根轨迹rlocfind(sys2);零极点图：根轨迹图：R2=41.7;num2=500/R2;den=conv(conv([1 0],[0.1 1]),[0.5 1]);sys2=tf(num2,den);roots(den);figure(1)pzmap(