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智能型晶体管开关参数测试仪 BJ2961A 技术说明书 北京无线电仪器厂 010 概述： BJ2961A晶体三极管开关参数测试仪，是测量1瓦以下NPN型或PNP型晶体开关三极管动态参数的专用仪器，它由取样电路、毫微秒脉冲信号发生器、缓冲电路、A/D转换及显示部分、测试盒及电源等电路组成。 本仪器适用于半导体器件厂及使用半导体器件的整机厂、科研单位进行器件检验、研究等。该产品可测量晶体三级管下列参数： td: 晶体三极管的延迟时间 tr: 晶体三极管的上升时间 ton: 晶体三极管的开启时间 ts: 晶体三极管的存储时间 tf： 晶体三极管的下降时间 toff: 晶体三极管的关闭时间 晶体三极管开关参数测量电路及测试波形 为了方便准确地测量出晶体三极管的开关时间分成两个电路进行测量。 td、tr、ton测量电路 ( 以NPN型晶体管为例 ) 测量条件： trg≤1/3tr(min) tr (示波器) ≤1/5 tr(min) RB1、RB2》hie 脉冲宽度≥3（td + tr）max IB1= mIB2 =nIC (m、n为实数) trg ： 脉冲信号发生器的上升时间 tr(min)： 被测晶体管上升时间最小值 （2）ts、tf、toff测量电路 测量条件： trg≤1/3tf(min) tr (示波器) ≤1/5 tf(min) RB1、RB2》hie 脉冲宽度≥（ts + tf）max IB1= mIB2 =nIC (m、n为实数) trg ： 脉冲信号发生器的下降时间 tf(min)： 被测晶体管下降时间的最小值。 (3)开启电流IB1，关闭电流IB2，集电极电流IC的计算公式 测td、tr、ton时 IB1= (a) IC = (b) 测ts、tf、toff时 BB1: 由IB电流表指示 IB2≈Vin/ RB2 - IB1 4、本仪器的技术参数 偏置电流： IB： 1mA 3mA 10mA 30mA 50mA IC: 10mA 30mA 100mA 300mA 500mA 以上各点电流定点测试误差IB≤2% IC≤3% 脉冲信号源： 频率：20 KHZ±10% 脉冲宽度tw范围: 0.7uS≤tw≤2.5uS 正脉冲上升时间≤2nS 负脉冲下降时间≤2nS 输出阻抗：50Ω 正负脉冲幅度：10 V±5% 取样单元： a、A、B探头输入阻抗：不低于80KΩ b、A、B探头输入动态范围：1V c、扫速量程：共分四档 误差±4% 20nS/cm 50nS/cm 100nS/cm 200nS/cm d、取样点数：1000点±3% 5、仪器的A/D转换、计算机、接口、键盘电路及显示电路能正确显示测试波形 及参数值。 6、样管测试误差：ton toff 12%±1nS 对于IB1= IB2=30mA IC=300mA以上测量条件，td、tr及ts、tf分开测试本仪器不做考核。 7、仪器使用条件 环境温度：10℃～30℃ 相对湿度：在30℃时不大于80％ 大气压力：750±30mmHg 电源电压：220V±10％ 电源频率：50HZ±2HZ 仪器使用前预热时间15分钟 仪器连续工作时间：8小时 仪器在使用中，周围不应有较强的电磁场干扰及有害气体的腐蚀。 8、工作原理： 本仪器的组成： a、取样示波器：它将被测管器件的输入信号（A信号）和输出信号（B信号）经“取样”处理后，原A、B高频信号在时间上等效为低频信号，经缓冲电路供给A/D转换电路，计算机通过键盘和接口电路进行数字化处理，电路主要包括： a-1、A、B通道探头：采保A、B信号的取样点电平。 a-2、水平扫描电路：它由脉冲信号源的“同步脉冲”触发。产生扫描斜波和快斜波，步进延迟脉冲等信号。由计算机来的控制信号可改变大斜波的幅度或快斜波的斜率从而改变取样示波器的“等效扫速”量程。 a-3、取样脉冲发生器：产生高速开门脉冲，（供给A、B探头开门脉冲，垂直通道的展宽门脉冲及A、B垂直通道的前置放大器电路。 a-4、垂直通道电路：经取样探头采保来的微弱信号展宽放大。 b、脉冲信号发生器：脉冲信号发生器由前级部分和脉冲末级部分组成。(前级部分在仪器的B屉) b-1、前级部分:前级由振荡电路,同步脉冲电路，延迟电路等组成。由机算机控制同步脉冲选择，及延迟电路延迟时间，从而改变输出脉冲对同步脉冲的时间延迟，以配合测量波形在取样示波器X轴的显示位置。 b-2、末级部分：末