数显卡尺内校管理办法..docVIP

编 制 谭春 审 核 批 准 编制日期 2011-03-24 审核日期 批准日期 修 改 记 录 文件版本 修改内容 编制/ 日期 审核/ 日期 批准生效日期 1.0 目的及适用范围 1.1 目的 本规定了技术要求、校准条件、校准项目、校准方法、校准结果的处理和校准周期。 1.2 适用范围 本用于新购置、使用中和修理后的功能的校准。 2 引用文件 JJG-2002通用卡尺检定规程 3.0 术语和定义 4.0 一般要求 4.1 技术要求 4.1.1 外观及附件。 被检的外观应完好，无影响正常工作的机械损伤，其附件和使用说明书应齐全。 4.1.2 工作正常性 被检的各开关及显示功能应正常，通电后应能正常工作。 4.2 校准条件 4.2.1 环境条件如下： 4.2.1.1 环境温度：（20±5）℃； 4.2.1.2 相对湿度：20％～75％；4.2.2 校准用设备 校准所用标准设备必须经过法定计量技术机构校准合格，并在有效期内。标准设备的测量范围要涵盖被检仪器的测量范围，标准的的三分之一。 4.2.24.2.2.2 数显千分尺 5.0 详细要求 5.1 校准项目 5.1.1 周期校准项目 5.1.1.1 外观及附件5.1.1.2 工作正常性5.1.1.3 各量程内的示值误差。 5.1.2 修理后校准项目 修理后的仪器校准时，一般按周期校准的项目进行校准，必要时可视修理情况增加有关的校准项目。 5.2 校准方法 5.2.1 外观及附件的检查 用目视法检查被检的外观及附件，其结果应符合4.1.1的规定。 5.2.2 工作正常性的检查 5.2.2.1 被校应在4.2.1规定的条件下放置2h以上。 5.2.2.2 被检各开关及功能键的功能应正常。 5.2.2.选择校准点 5.3.1.1 选择5.3.1.2 数字显示器示值稳定性的校准：将卡尺的固定螺柱拧紧，将卡尺放在一固定位置1小时，示值变化不得超过0.01mm； 5.3.1.3 5.3.1.4 用外爪夹持1个人10mm的量块，紧固螺栓后用量块可以滑动但不掉落，用千分尺量测内爪。 5.4.1 卡尺示意图 5.4.1.2 选择被检卡尺的适当校准点，由标准量块的标准值 ，从被检卡尺得到示值； 5.4.1.3 读取并记录和值在校准原始记录上。 5.4.1.4 按式（1）、（2）计算被检表的示值误差。 公式（1） 公式（2） 式中： ——被检卡尺的示值误差，V； ——被检卡尺的相对误差； ——被检卡尺示值，V； ——标准值，V； 5.4.1.5 应符合使用说明书的要求。 5.5 校准结果的处理和校准周期 5.5.1 校准结果的处理 经校准合格的被检卡尺出具校准证书和校准合格证，不合格的被检表出具校准不合格报告,并注明不合各项目。 5.5.2 校准周期 数显卡尺校准周期为一年，修理后校准合格才能使用。 5.5.3 校准记录结果有校准部门进行保存，保存期限为二年。 5.6 校准使用表格及标贴 5.6.1 数显卡尺原始记录表； 5.6.2 数显卡尺校准报告； 5.6.3 校准不合格报告；  5 深圳和而泰智能控制股份有限公司 Shenzhen HT Intelligent Control CO., LTD. 作业文件 数显卡尺内校管理办法 文件编号 页　　码 第4页, 共5页 版本: 5 深圳和而泰智能控制股份有限公司 Shenzhen HT Intelligent Control CO., LTD. 作业文件 数显卡尺内校管理办法 文件编号 页　　码 第1页, 共5页