实验一门电路逻辑功能测试及逻辑变换.docVIP

实验一 门电路逻辑功能测试及逻辑变换 一．实验目的： 1.掌握集成门电路的逻辑功能及测试方法。 2.掌握集成门电路的逻辑变换。 3.熟悉数字电路实验箱、数字万用表、双踪示波器的使用方法。 二．实验仪器及器件： 1. TPE—D6Ⅲ 型数字电路实验箱 1台 2.双踪示波器 1台 3.数字万用表 1块 4.器件： 74LS20 双4输入与非门 1片 74LS04 六反相器 1片 74LS86 四2输入异或门 1片 74LS00 四2输入与非门 1片 三．实验预习： 1.复习各种门电路的逻辑符号、逻辑函数式、真值表。 2.查出实验所用集成电路的外引脚线排列图，熟悉其引脚线位置及各引脚线用途。 四．实验原理： 1.测试门电路的逻辑功能有两种方法： （1）静态测试法：就是给门电路输入端加固定高、低电平，用万用表、发光二极管等测输出电平。 （2）动态测试法：就是给门电路输入端加一串脉冲信号，用示波器观测输入波形与输出波形的关系。 2.门电路的逻辑功能： （1）与非门的逻辑功能：有0出1，全1出0。 与非门的逻辑函数式：Y=AB 74LS20为双4输入与非门, 即在一块集成块内含有二个互相独立的与非门,每个与非门有4个输入端。如图1.1.1所示。 （2）非门的