马玉立测控第三次光强检测解析.doc

南京邮电大学 自动化 学院 实 验 报 告 实验名称： 光强测试系统 课程名称： 测控技术与仪器专业综合实验 所在专业： 测控技术与仪器 学生姓名： 马玉立 班级学号： 任课教师： 戎舟 2015 /2016 学年第 二 学期 摘要： 以光强传感器BH1750FVI、SL-1型51单片机综合实验箱为硬件基础，采用虚拟仪器技术，完成光强检测。能实时测量出光照强度，显示出光照强度数值并显示实时波形，并具有数据存储功能，解决了传统测试仪器的成本高、开发周期长、数据人工记录等问题。 一．实验目的 1.理解光强测试系统所用传感器的原理，掌握光强测试系统所用模块的使用。 2.掌握单片机和上位机LabVIEW的串口通信。 二．实验要求 采用光强测试系统实现一基于单片机和虚拟仪器技术的光强测试系统，单片机接收数据后通过串口传至上位机，在LabVIEW中实现光强模块测试精度的设置、数据的转换、实时显示和存储等功能。 三．实验设备 （1）计算机 1台 （2）SL-1型51单片机综合实验箱 1台 （3）光强度传感器BH1750FVI 1个 四．实验内容 4.1系统结构 (1)系统结构及模块功能说明 系统结构分为：光强度传感器部分、单片机处理部分、labview部分。光强度传感器部分用来采集光强度，单片机部分处理传感器的数据，labview完成光强模块测试精度的设置、数据的转换、实时显示和存储。 (2)系统框图 图1系统框图 4.2硬件模块 (1)光强度传感器BH1750FVI介绍： 传感器采用数字型集成光强度传感器BH1750FVI，接口为两线式串行总线。该传感器直接将光强信号转换成数字信号，分辨率高，可以探测较大范围的光强度变化，它的测量范围为：11x-655351x。实际应用中可以根据采集的光强度数据来调整液晶或键盘背景灯的亮度。传感器BH1750FVI模块结构图如下图所示： 图2 传感器BH1750FVI模块结构图 从结构框图可容易看出，外部光照被接近人眼反应的高精度光敏二极管PD探测到后，通过集成运算放大器将PD电流转换为PD电压，由模数转换器获取16位数字数据，然后被逻辑和IC界面进行数据处理与存储。OSC为内部的振荡器提供内部逻辑时钟，通过相应的指令操作即可读取出内部存储的光照数据。数据传输使用标准的I2C总线，按照时序要求操作起来也非常方便。 (2)电路图和实物图 图3 H1750FVI实物图 图4 图5 电路图 #include REG51.H #include math.h //Keil library #include stdio.h //Keil library #include INTRINS.H #define uchar unsigned char #define uint unsigned int sbit SCL=P1^0; //IIC时钟引脚定义 sbit SDA=P1^1; //IIC数据引脚定义 #define SlaveAddress 0x46 //定义器件在IIC总线中的从地址,根据ALT ADDRESS地址引脚不同修改 //ALT ADDRESS引脚接地时地址为0x46，接电源时地址为0xB8 typedef unsigned char BYTE; typedef unsigned short WORD; BYTE BUF[8]; //接收数据缓存区 uchar ge,shi,bai,qian,wan; //显示变量 int dis_data; //变量 int a,flag; int g_temp[5]={0}; void delay_nms(unsigned int k); void Init_BH1750(void); void conversion(uint temp_data); void Single_Write_BH1750(uchar REG_Address); //单个写入数据 uchar Single_Read_BH1750(uchar REG_