仪器分析X射线荧光光谱分析仪.要点.ppt

钨靶：原子序数高，功率较大，有很强的连续谱和L系特征谱，且纯度高，杂质线少，靶面不易损坏； 铑靶和银靶：连续谱强度低于钨靶，但高于铬靶，激发轻重元素介于钨靶和铬靶之间； 铬靶：适于激发轻元素。 （2）分光系统 a. 准直器 b. 晶体分光器 平面晶体分光器 弯面晶体分光器 a 准直器: 由一组平行的金属箔片组成，被激发的样品向各个方向发射的X射线，只有基本上平行于准直箔片的能够通过而到达分光晶体。 准直器长度越长，片间距越小，作用就越大：即峰越窄，分辨率越高，强度降低。 仪器结构：准直器（ Sollers 狭缝） Improving the resolution by means of a collimator b 分光晶体 分光晶体是应用了X射线的衍射特性 分光系统的主要部件是晶体分光器，它的作用是通过晶体衍射现象把不同波长的X射线分开。根据布拉格衍射定律2dsinθ=nλ，当波长为λ的X射线以θ角射到晶体，如果晶面间距为d，则在出射角为θ的方向，可以观测到波长为λ=2dsinθ的一级衍射及波长为λ/2，λ/3等高级衍射。改变θ角，可以观测到另外波长的X射线，因而使不同波长的X射线可以分开。 分光晶体的选择： 考虑之一：分辨率 Resolution of a crystal depends on : surface finish purity dispersion 考虑之二：灵敏度 考虑之三: 温度的稳定性、晶体荧光等 2.3 检测记录系统 上图是流气正比计数器结构示意图。它主要由金属圆筒负极和芯线正极组成，筒内充氩（90%）和甲烷（10%）的混合气体，X射线射入管内，使Ar原子电离，生成的Ar+在向阴极运动时，又引起其它Ar原子电离，雪崩式电离的结果，产生一脉冲信号，脉冲幅度与X射线能量成正比。所以这种计数器叫正比计数器，为了保证计数器内所充气体浓度不变，气体一直是保持流动状态的。流气正比计数器适用于轻元素的检测。 X射线荧光光谱仪用的检测器有流气正比计数器和闪烁计数器。 另外一种检测装置是闪烁计数器，如上图。闪烁计数器由闪烁晶体和光电倍增管组成。X射线射到晶体后可产生光，再由光电倍增管放大，得到脉冲信号。闪烁计数器适用于重元素的检测。 除上述两种检测器外，还有半导体探测器等等。 用来接受X射线，并把它转化为可测量的量，如可见光、电脉冲等。 X射线荧光光谱仪中常用的检测器有正比计数器、闪烁计数器和半导体计数器。 （3）检测器 正比计数器(充气型)： 工作气 Ar；抑制气 甲烷 利用X射线使气体电离的作用，辐射能转化电能； 由掺有锂的硅（或锗）半导体做成，在其两面真空喷镀一层约20nm的金膜构成电极，在n、p区之间有一个Li漂移区。因为锂的离子半径小，很容易漂移穿过半导体，而且锂的电离能也较低，当入射X射线撞击锂漂移区时，在其运动途迳中形成电子-空穴对，电子-空穴对在电场的作用下，分别移向n 层和p 层，形成电脉冲。脉冲高度与X射线能量成正比。 三者的比较 闪烁计数器：探测效率高，死时间小，输出脉冲幅度大，温度影响小，操作性能比较稳定可靠。NaI 晶体易潮解，导致分辨率和探测效率下降；另外，光电管易受外界光电厂影响。 正比计数器：适合探测长波长X射线，能量分辨率仅次于闪烁计数器，死时间小，但使用麻烦。 半导体探测器;能量分辨率和探测效率高，可探测能量范围大，但必须在低温下工作，使用相当不便。 (4)背景扣除 强度测量中，需扣除背景，背景是指在试样测定中，当分析线不存在时，在分析线所处的2θ角位置上测得的强度。 来源：X射线管发出的初级X射线；二次X射线的透射、散射、漫射与反射。 背景测量常用方法： 如分析线A与均匀连续的背景重叠，在峰附近测量背景；如背景不均匀，则在峰两侧等距测量，再取平均值。 若分析线与靶或基体元素的特征线重叠，则可以用空白样品在分析线位置测量背景。所谓空白样品是指化学成分，物理形态与分析样品相同，但不含待测元素的样品。若分析元素浓度较高，则需加入替代元素。要求与分析元素散射相近，浓度相等，且不产生干扰谱线。 能量色散型 两种类型的X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源。 2.1 激发光源 灯丝和靶极密封在抽成真空的金属罩内，灯丝和靶极之间加高压（一般为40KV），灯丝发射的电子经高压电场加速撞击在靶极上，产生X射线。X射线管产生的一次X射线，作为激发X射线荧光的辐射源。只有当一次X射线的波长稍短于受激元素吸收限lmin时，才能有效的激发出X射线荧光。大于lmin的一次X射线其能量不足以使受激元素激发。