表1货物需求一览表序号设备名称数量预算(万)交货期质保期1全.docVIP

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表1货物需求一览表序号设备名称数量预算(万)交货期质保期1全

表1:货物需求一览表 序号 设备名称 数量 预算(万) 交货期 质保期 1 全功能稳瞬态荧光光谱仪 1 118.6 合同签订后 1个月 1年 合计 118.6 表2:设备配置及技术规格表 序号 设备名称 技术参数 功能要求 1 全功能稳瞬态荧光光谱仪 仪器主机 稳态激发光源。 双级单驱联动单色仪。 参比检测器。 紫外可见探测器。 发光寿命测试单元,计时电子装置,高能量单波长脉冲光源多个。 微量粉末样品支持10μL样品测量,固体样品发光光谱。 痕量样品发光光谱,支持1μL样品量分析,并提供技术证明文件。 样品发光寿命测量,支持1-5指数拟合。 荧光动力学测试。 灵敏度 根据ASTM(美国试验与材料学会)推荐方法,荧光素检测下限在10-14M,满足痕量样品测试需求。水拉曼信噪比测量30 000:1(RMS方法, PMT检测器无需制冷,工作电压950V,无滤光片辅助)。 稳态激发光源 无臭氧450W氙灯,垂直安装,风冷灯室,采用离轴反射镜收集和聚焦光路设计,保证全波长最大反射效率 激发波长范围240~1000nm(带校正因子) 备用450W无臭氧氙灯 双级激发/发射单色仪 双级激发/双级发射单色仪(非两个单级单色仪耦连),Czerny-Turner式设计,全反射部件 双光栅单驱联动控制,自动狭缝,狭缝连续可调,范围0-15nm。 杂散光抑制率:≤10-9 (8nm处);<10-10 (10nm处) 检测器 紫外-可见PMT检测器 R928光子检测器 光子计数工作模式,范围185~900nm 样品仓 样品仓部分无透镜引起色差,样品仓内部周围有挡板保护,防尘及防止外部通气清扫对样品仓产生污染。 固体样品支架,360度调节,样品后置放入,保证样品前表面始终位于焦平面。 10μL微量粉末样品夹具,满足微量样品检测需求。 液体样品支架,4mL标准石英比色皿,用于液体样品测量。 滤光片组件,包含滤光片支架和标准滤光片套组。 前置测量附件,适用于高杂散光固体和粉末等材料的测量。 寿命测量 荧光测量寿命范围200ps~10μs,100μs时间窗口 死时间10ns 具备荧光寿命动力学测试功能 电脑连接USB 2.0,无需扩展卡 激发光源 即插即用光源 采用镀金外壳,屏蔽射频干扰, 无需外加冷却; 荧光寿命脉冲光源 闪烁频率1MHz~10kHz 脉冲能量>1pJ/pulse(光源数量4个, 中心波长270nm, 脉冲能量>1pJ/pulse, 中心波长320nm, 脉冲能量>1pJ/pulse, 中心波长350nm, 脉冲能量>1pJ/pulse, 中心波长390nm, 脉冲能量>10pJ/pulse.) 计算机和软件 世界著名厂家生产的电脑 ,Windows英文操作系统。光谱专业软件包 - 包括仪器控制,数据采集、计算和数据处理等各项功能。 FluorEscenceTM数据采集软件功能 耦合Origin?数据图表处理软件; 直接保存Obj格式数据,包括数据表、图谱、测量条件三部分; 数据处理包括Gaussian, Lorentzian和定制化积分/导数拟合 多对激发-发射波长动态扫描 瞬态软件拟合功能 1~5 指数拟合分析 批量模式,可使用相同参数处理10000条衰减曲线,满足寿命成像和反应动力学对大数量数据分析要求 寿命分布 30项指数级数分析 时间分辨各向异性 FRET能量转移 微胶束猝灭动力学 Global分析,可处理5个指数,100条衰减曲线 工作条件和总体要求 设备适用于中国大陆供电电源:电源电压:AC 220V (±10%) 50Hz单相; 配置符合中国有关标准要求的电源插头,如果没有这样的插头,则需要提供适当的转换插头; 设备必须具有良好的操作性、方便的维修性和可靠的安全性,如设备对环境有特殊要求和限制,需供应商特别注明,并告知用户,并提供适当的解决方案; 全部设备发货在签订合同后4个月内完成; 交货地点:CIP 国内主要机场 售后服务和技术支持 货到之后1周内,设备供应商到达用户处进行设备现场安装和调试,并且负责现场培训用户技术人员(至少2名)、操作人员(若干名)进行现场仪器使用技术培训,培训内容包括:仪器的正确使用和操作,仪器的校准、仪器软件的使用; 设备免费保修期一年,保修期自验收签字之日起计算;厂家定期举办用户培训班,质保期内2人次免费用户培训,同时提供免费网络培训讲堂等学习资源。 如遇到设备软硬件出现问题,设备供应商应在接到用户通知后24个小时日内响应。设备供应商提供设备终身维修,并保证零配件的长久供应; 在硬件支持的前提下,提供软件免费升级。 设备用途和基本要求: 光源可包括连续光源或脉冲光源,分别用于稳态和瞬态测量;样品仓可放置液体和固体样品;激发单色仪和发射单色仪通过光栅进行分光;探

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