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X射线探测简述

一、气体电离辐射探测器 工作原理:入射粒子使高压电极和收集电极间的气体电离, 生成的电子离子对在电场的作用下向两极漂移,在收集电极上产生输出脉冲。 惰性气体加少量多原子分子气体的混合气用氙气可增大气体的密度,提高转换效率 脉冲电离室的输出信号所包含的信息 二、闪烁晶体探测器 闪烁探测器的性能由闪烁晶体和光电二极管阵列性能,以及闪烁晶体与光电二极管耦合工艺决定。 常采用的闪烁体晶体有CdWO4(钨酸镉)、BGO( Bi4 Ge3O12锗酸铋) 、CsI( 碘化铯) 等, 它们各有优缺点。 CsI( Tl) 价格稍低,发光效率高且光谱与光电二极管匹配较好, 但抗辐射能力差, 在高能X 射线照射下, 寿命很短; BGO 闪烁晶体除价格昂贵外, 抗辐射能力太弱; CdWO4闪烁晶体各方面性能较好, 目前普遍被高能工业CT 采用, 但CdWO4闪烁晶体余辉长,且机械加工性能不好, 不宜加工成细长的探测器晶体, 价格也昂贵 闪烁晶体探测器原理 CdZnTe(CZT)晶体是一种性能优异的室温半导体核辐射探测器新材料。CZT晶体是由于CdTe晶体的电阻率较低,所制成的探测器漏电流较大,能量分辨率较低,就在CdTe中掺入Zn使其禁带宽度增加,而发展成了的一种新材料。随Zn含量的不同,禁带宽度从1.4eV(近红外)至2.26eV(绿光)连续变化,所制成的探测器漏电流小,在室温下对X射线,γ射线能量分辨率好,能量探测范围在10KeV-6MeV,且无极化现象。 1. CdTe、CdZnTe探测器 三、半导体探测器 优点:原子序数高,禁带宽度大,电阻率高,非常适合探测10-500KeV的光子,可以在室温下工作。体积为1-2cm3的晶体可探测能量1MeV以上的光子,用于x射线、?射线能谱测量。对57Co的122KeV ?射线的半宽度室温时为5.9KeV。 缺点:载流子寿命不够大,俘获长度较小,造成电荷收集不完全,能谱性能受限制。 2.锂漂移半导体探测器(PIN结) 基体用P型半导体(因为极高纯度的材料多是P型的),例如掺硼的Si或Ge单晶。 (1) 一端表面蒸Li,Li离子化为Li+,形成PN结。 (2) 另一端表面蒸金属,引出电极。 外加电场,使Li+漂移。Li+与受主杂质(如Ga-)中和,并可实现自动补偿形成 I 区。 (3) 形成P-I-N结,未漂移补偿区仍为P,引出电极。 P N+ Intrinsic Semi Front metallization Ohmic back contact To positive bias voltage 为了降低探测器本身的噪声和FET的噪声,同时为降低探测器的表面漏电流,锂漂移探测器和场效应管FET都置于真空低温的容器内,工作于液氮温度(77K)。 对Ge(Li)探测器,由于锂在锗中的迁移率较高,须保持在低温下,以防止Li+Ge-离子对离解,使Li+沉积而破坏原来的补偿;对Si(Li)探测器,由于锂在硅中的迁移率较低,在常温下保存而无永久性的损伤。 3) 由于PIN探测器能量分辨率的大大提高,开创了?谱学的新阶段。 Li漂移探测器的问题:低温下保存代价很高;漂移的生产周期很长,约30~60天。 四、CCD电耦合器件 1.电荷的储存 以电荷为信号 势阱产生-势阱合并-电荷转移-电荷共有-电荷转移-势阱及电荷转移一个位置。 电荷包的转移是由势阱的不对称和势阱耦合引起的 以电荷为信号 2.电荷的转移 Less than 0.2um

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