频率特性测试仪的设计..docxVIP

频率特性测试仪的设计?1 引言? 频率特性是一个网络性能最直观的反映。频率特性测试仪用于测量网络的幅频特性和相频特性，是根据扫频法的测量原理设计，是一种快速、简便、实时、动态、多参数、直观的测量仪器，可广泛应用于电子工程等领域。由于模拟式扫频仪价格昂贵，不能直接得到相频特性，更不能打印网络的频率响应曲线，给使用带来诸多不便。为此，设计了低频段数字式频率特性测试仪。该测试仪采用数字直接频率合成技术专用的集成电路AD985l产生扫频信号，以单片机和FPGA为控制核心,通过A/D和D／A转换器等接口电路，实现扫频信号频率的步进调整、数字显示及被测网络幅频特性与相频特性的数显等。该系统成本低廉，扫频范围较宽(10 Hz～1MHz)，可方便地与打印机连接，实现频率特性曲线的打印。2 多功能计数器设计方案2．1 幅频和相频特性测量方案?方案1：利用公式H(s)=R(s)/E(s)，以冲击函数为激励，则输出信号的拉氏变换与系统函数相等。但是产生性能很好的冲击函数比较困难，需要对采集的数据做FFT变换，需要占用大量的硬件和软件资源，且精度也受到限制。 方案2：扫频测试法。当系统在正弦信号的激励下，稳态时，响应信号与输入激励信号频率相同，其幅值比即为该频率的幅频响应值，而两者的相位差即为相频特性值。采用频率逐点步进的测试方法。无需对信号进行时域与频域的变换计算，通过对模拟量的测量与计算完成，且精度较高。 综上所述，选择方案2。2．2 扫描信号产生方案?方案1：采用单片函数发生器。其频率可由外围电路控制。产生的信号频率稳定度低，抗干扰能力差，灵活性差。 方案2：采用数字锁相环频率合成技术。但锁相环本身是一个惰性环节，频率转换时间长，整个测试仪的反应速度就会很慢,而且带宽不高。 方案3：采用数字直接频率合成技术(DDFS)。以单片机和FPGA为控制核心,通过相位累加器的输出寻址波形存储器中的数据,以产生固定频率的正弦信号。该方案实现简单，频率稳定，抗干扰能力强。 综上分析，采用方案3。2．3 幅度检测方案?方案1：采用/cpro/ui/uijs.php?adclass=0app_id=0c=newscf=1001ch=0di=128fv=18is_app=0jk=dbe6ea00edfbc9a1k=%B6%FE%BC%AB%B9%DCk0=%B6%FE%BC%AB%B9%DCkdi0=0luki=4mcpm=0n=10p=baiduq=kmnkoo_cprrb=0rs=1seller_id=1sid=a1c9fbedeae6dbssp2=1stid=9t=tpclicked3_hctd=1698989tu=u1698989u=/z/keji/dz/577596.htmlurlid=0 \t /z/keji/dz/_blank二极管峰值检测电路。但是二极管的导通压降会带来较大误差，小信号测量精度不高，而且模拟电路易受到外部的影响，稳定性不高。 方案2：采用真有效值检测器件。该方法电路简单，精度高，稳定性高。 综上所述，采用方案2。2．4 相位检测方案?方案1：相位电压转换法。采用/cpro/ui/uijs.php?adclass=0app_id=0c=newscf=1001ch=0di=128fv=18is_app=0jk=dbe6ea00edfbc9a1k=%B5%CD%CD%A8k0=%B5%CD%CD%A8kdi0=0luki=2mcpm=0n=10p=baiduq=kmnkoo_cprrb=0rs=1seller_id=1sid=a1c9fbedeae6dbssp2=1stid=9t=tpclicked3_hctd=1698989tu=u1698989u=/z/keji/dz/577596.htmlurlid=0 \t /z/keji/dz/_blank低通滤波法和积分法。低通滤波法的/cpro/ui/uijs.php?adclass=0app_id=0c=newscf=1001ch=0di=128fv=18is_app=0jk=dbe6ea00edfbc9a1k=%C2%CB%B2%A8k0=%C2%CB%B2%A8kdi0=0luki=8mcpm=0n=10p=baiduq=kmnkoo_cprrb=0rs=1seller_id=1sid=a1c9fbedeae6dbssp2=1stid=9t=tpclicked3_hctd=1698989tu=u1698989u=/z/keji/dz/577596.htmlurlid=0 \t /z/keji/dz/_blank滤波环节和精度不高；积分法精度较高，但是对积分电路和放电回路的要求很高。 方案2：计数法。两路信号经整形异或后，所得的脉冲占空比能反映相位差的大小，由此测得其相位差。采用多周期同