origin 直接处理XPS数据说明.docVIP

数据输入：将得到的ASII code 文档在excell中打开，将里面的binding energy和intensity 两列数据拷贝到origin中作图。 注意：其峰位是未经过荷电校正的不能用来判断价态。 （2）荷电校正：将你的横坐标加上或减去所给的C1s校准值后，在origin中连线得到的谱图就是正确的谱图。 （3）谱图分峰拟合： 在origin中，经过平滑,得到下图： 去本底：选择tools(baseline 3、出现下面的窗口，选择baseline，将number of points后的参数改小一些，比如2，点击create baseline 4、出现下图：选择小窗口中的modify： 5、拖动每一点到合适的位置（点住鼠标左键不放一直拖到合适的位置）：如图 6、然后选择substract得到 7、分别点击X轴、Y轴将坐标更换为原来顺序和数值同时关闭baseresult： 8、如图：选择analysis(Fit multi-peaks(gaussian 9、出现下面的窗口：按需要拟合的子峰个数输入 10、点击ok，得到： 11、点击OK默认选择，根据谱图的形状双击选择子峰位置（红十字代表峰顶）：如图 12、刚才设置为两个子峰，所以双击两个位置，这时电脑自动计算出相关数据：如果想要看拟合后的曲线，需激活（调出）谱图窗口。然后，选择analysis(non liner curve fit 如图： 13、得到： 14、上图不合理，两子峰半峰宽相差太大，需要加入新的子峰进行调整。点击下图中more按钮 15、出现下图： 16、选择basic mode(start fitting回到原界面，点击1 lter和10 lter 知道出现新的子峰 17、上图明显也不合理，调节小窗口中各个子峰的数值 18、然后点击下图中done按钮，再次激活谱图窗口，选择analysis(non-linear curve fit,反复修改直到得到满意的谱图 谱峰分析注意事项： 不能一味的平滑，有时不平滑反而能更准确的反映样品的性质 校正要有理有据，不能随意更改。 解谱注意事项： 各个子峰的半峰宽要尽量接近。 如果所解谱图不是1S，就会出现谱峰分裂（比如：2p1/2和2p3/2）此时，一定要根据谱图手册，按谱峰间距解谱。（见附属文件：各元素结合能与峰间距） 对于裂分峰峰面积不能随意拟合，要按谱图手册的比例进行，一般情况面积比：2p1/2:2p3/2=1:2, 3d3/2:3d5/2=2:3, 4f5/2:4f7/2=3:4 。 注意：以上方法得出的数据，仅供参考。 更改为2增加一个子峰，依次类推 点击此按钮出现此图界面 峰位置、半峰宽和面积