X射线荧光光谱分析技术介绍之一(理论).ppt

1 X射线荧光光谱分析技术 一、基础理论 二、仪器的结构与分析条件的选择 三、定量分析方法和基体效应校正 四、SPECTRAplus 软件介绍 一、基础理论 X射线的产生 连续谱线 特征谱线 X射线的性质 吸收 散射 衍射 电磁辐射 X射线的产生 X射线的产生: 特征谱线（光电效应） 特征谱线 荧光产额 特征谱线 特征谱线 特征谱线 谱线的相对强度 X射线的性质 作为一种电磁波，具有波粒二相性的特点： 光电效应 吸收 散射: 相干散射 不相干散射 衍射 X射线的特性：吸收 X射线的特性：吸收限 X-ray energies und absorption edges in keV 二、仪器结构： 原理图 X射线光管发射的原级X射线入射至样品，激发将样品中各元素的特征谱线 分光晶体将不同波长l的X射线分开 计数器记录经分光的特定波长的X射线光子 N 根据特定波长X射线光子 N的强度，计算出与该波长对应的元素的浓度 仪器型号: SRS 3400  仪器型号: S4 EXPLORER/ S4 PIONEER 仪器型号：MRS 4000 X射线光管：发射X射线的原理 X射线光管 ：端窗光管示意图 End-window X-ray tubes: higher X-ray transmission by thinner tube