(X射线仪的基本组成.docVIP

X射线仪的基本组成 1895年德国物理学家伦琴在研究阴极射线管中气体放电现象时X射线仪用于航天，石油建设，天然气管道，锅炉，压力容器等无损探伤中不可缺少的设备。常用的探测器是基于X射线能使原子电离的特性而制造的，原子可以为气体（如正比计数器、盖革计数器），也可以为固体（如闪烁计数器、半导体计数器） 2.1 正比计数器 正比计数器是以气体电离为基础的，其构造是由一个充气的圆筒形金属套管（作阴极）和一根与圆筒同轴的细金属丝（作阳极）所构成。在圆筒的窗口上盖有一层对X射线透明的材料（云母或铍片）。 若把这种装置的电压提高到600～900V左右时，自窗口射入的X射线的一部分能量通过，而大部分能量被气体吸收，其结果使圆筒中的气体产生电离。 在电场的作用下，电子向阳极丝运动，而带正电的离子则向阴极圆筒运动。因为这时电场强度很高，可使原来电离时所产生的电子在向阳极丝运动的过程中得到加速。并且离阳极丝越近，电场强度越高，电子的加速度也就越来越大。当这些电子再与气体分子碰撞时，将引起进一步的电离，如此反复不已。 这样，吸收一个X射线光子所能电离的原子数要比电离室多103~105倍。这种现象称为气体放大作用，其结果即产生所谓“雪崩效应”。 当每个X射线光子进入计数管产生一次电子雪崩，于是就有大量的电子涌到阳极丝，从而在外电路中产生一个易于探测的电流脉冲。这种脉冲的电荷瞬时地加到电容器C上，经过联接在电容器上的脉冲速率计或定标器的探测后，再通过一个大电阻R1漏掉。当电压一定时，正比计数器所产生的脉冲大小与被吸收的X射线光子的能量呈正比。 正比计数器优点：反应快，对两个连续到来的脉冲的分辨时间为10-6s， 性能稳定，能量分辨率高，背底脉冲极低，计数率极高，在理想情况下，可认为没有计数损失。缺点是对温度比较敏感，计数管需要高度稳定的电压。 2.2 盖革计数器 盖革计数器的气体放大倍数非常大，约为108～109数量级，所产生的电压脉冲幅值可达1~10V。 当电压恒定时，盖革计数器的输出脉冲大约相同，与引起原始电离的X射线光子能量（或波长）无关。盖革计数管内的气体的选用与X射线的波长有关。为了提高灵敏度，希望计数管里的气体对入射光子具有较高的吸收效率，而不同的气体对不同波长的X射线的吸收是不同的。 2.3 闪烁计数器 闪烁计数器系利用X射线激发固体物质(磷光体)发射可见荧光，磷光体一般为加入约0.5％铊作为活化剂的碘化钠单晶体，它经X射线照射后可发射蓝光。晶体的一面常覆盖一薄层的铝，在其上再覆盖一薄层的铍。薄层位于晶体和计数管窗口之间。铍不能透进可见光，但对X射线却是透明的。铝则能将晶体发射的光反射回光敏阴极上 当晶体吸收一个X射线光子以后，便在其中产生一个闪光，这个闪光即射进光电倍增管中，并从光敏阴极上撞出许多电子。在光电倍增管中装有若干个联极，其后一个均较前面一个高出约100伏的正电压，而最后一个则接到测量电路中去。从光敏阴极上迸出的电子被吸往第一个联极，每一个电子又可从联极的金属表面上撞出两个电子；而每个到达第二个联极上的电子又可撞出两个电子，如此类推。每个联极的增益约为4至5，而联极一般有8至14个，总的倍增将超过l06。这样，晶体吸收了一个X射线光子以后，便可在最后一个联极上收集到数目巨大的电子，从而产生一个大小跟盖革脉冲同数量级的脉冲(达若干伏)。 闪烁计数器分辨时间10-5s。主要缺点为本底脉冲过高。即使在没有X射线入射时，依然会产生“无照明电流”（或称暗电流）的脉冲，即所谓热噪声。 三．技术测量电路 3.1 脉冲高度分析器 脉冲高度分析器利用计数器产生的电脉冲高度(脉冲电压)与X射线光子能量成正比的原理来判断脉冲高度，达到剔除干扰脉冲、提高峰背比的. 脉冲高度分析器由线性放大器、上限甄别电路、下限甄别电路和反符合电路(反相同时) 组成．只有脉冲高度介于上、下限甄别器之间的脉冲才能通过反符合电路，从而起到去除杂质背底的作用．下甄别器阈值称为基线，上、下甄别器阐值之差称为道宽，基线和道宽值可根据分析工作要求设定和调整 3.2 定标器 定标器是对由计数器直接输入或经脉冲高度分析器输入的脉冲进行计数的电路。定标器有定时计数和定数计时两种工作方式。除非精确进行衍射线形分析或漫散射测量等特殊需要时采用定数计时方式外，通常采用定时计数工作方式计数时间和计数值可由数显装置显示，也可打印或由x—y记录仪绘图。由测量的脉冲数除以给定时间即获得平均脉冲速。 3.3 技术率仪 计数率仪是定标器测量一段时间间隔内的脉冲数。计数率仪的功能则是直接地、连续地测量平均脉冲速率(单位时内平均脉冲数)计数率仪由脉冲整形电路、(电阻、电容) RC积分电路和电压测量电路组成。经脉冲高度分析器输