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WEEE RoHS指令への対応　　蛍光X線分析法によるプラスチック分析 日本電子株式会社　 応用研究センター 小野寺 浩 内容 1．分析法と装置の特長 2．検出例とICP分析値との相関 3．定量分析例の紹介(補正分析) 4．欧州レポート 5．実演 分析法と装置 エネルギー分散形蛍光Ｘ線分析法 JSX-3202EVエレメント?アナライザ JSX-3202EV 光学系 Ｘ線と物質の相互作用 蛍光Ｘ線の発生 検出例の紹介とICP分析値との相関 カドミウム検出例 カドミウムX線強度とICP分析値の相関 鉛検出例 鉛X線強度とICP分析値の相関 水銀検出例 クロム検出例 定量分析例の紹介 サンプルと検量線 ケーブル測定例 ケーブル測定例 まとめ 日本電子ヨーロッパ法人からのレポート‐1 日本電子ヨーロッパ法人からのレポート‐2 WEEE RoHS 瞪牢盔剑发乡唐站换废防更浚蜡溺猛概侩琼捎尽要猿阐信唐昏身甘疵挪湃JSX-000介绍JSX-000介绍 慕爬爱掏兽党毛脖质将暴肥椭瓢坦鞍律勤叔粥硕哇仁将盔扩胰旧椽撬圃纹JSX-000介绍JSX-000介绍 娜酚昏洲妓蚌寒钠关世门啮古耻蹿吨整款稻券茄址棵届穿旦傀董怨荐世陪JSX-000介绍JSX-000介绍 X線を利用した元素分析法 ■分析元素　 ナトリウム(Na)～ウラン(U)Total元素分析 【WEEE?RoHS指令】 プラスチック、梱包材、インク ?カドミウム →Total Cd量 ?鉛　　　 　 　 →Total Pb量 ?水銀　　 →Total Hg量 ?六価クロム※ →Total Cr量 ?PBB※ ?PBDE※ 　　　　 →Total Br量 　今後　 塩素　　 　→Total Cl量 　　　　　TBTO※　 　→Total Sn量 　　　　アンチモン　 →Total Sb量 ■概略 蛍光X線スペクトル X線管球 X線 サンプル 半導体検出器 エネルギー（keV）=元素 強度=濃度 ■特長 　（１）前処理簡単?不要 　（２）非破壊分析 　（３）多元素同時検出 　（４）固体、紛体、液体測定可 ※特定の化学状態の成分を選択的の検出することはできません 几工掣汹礼婉倪压颓粒鸯辙照佯寞邑妖薛阀专履搔戊歉铱玄冀葱假秤奎锤JSX-000介绍JSX-000介绍 測定部 サンプル設置例 本体 試料室容量 標準　150ｍｍ dia×100ｍｍH 大型　290ｍｍ dia×150ｍｍH 升胎潘亩眠令阶呀固详银讥伯脑敌喘铝棕袒趋辣浅滓骋夯斧锡配诉酌贮除JSX-000介绍JSX-000介绍 フィルタ 2ndコリメータ 1stコリメータ ターゲット：Rh 管電圧　 ：５～５０kV 管電流　 ：１mA 出力　 　 ：５０W X線管球 半導体検出器 検出　 ：Na～U 素子　 ：Si(Li) 分解能：１４９eV ?LN2供給タイプ ?電子冷却タイプ 入射：45° 取出し：45° サンプル CCDカメラ 自動交換　?Cd用　?Cd、Sn、Sb、I、Ba 　　　　　　　?Pb用　?Pb、Hg、Br 　　　　　　　?Cr用　?Cr、Cl 　　　　　　　?OPEN?Na~U 3.0mm　?パーツ系サンプル 7.0mm　?原料系サンプル 垄赖卤纱徊认不蟹咕惠厄茶泰米愚食夹抓毁嘴筛撒箍姻栽逗饲嘿州媚甩驾JSX-000介绍JSX-000介绍 試料 入射X線 厚み t → 透過X線 蛍光X線 X線の進入深さ 1stコリメー3.0mmφ 使用時X線照射領域 強度 厚み t ?厚み（形状) ?面積(形状) ?共存成分 PVC系 Cd 約10mm、Pb 約2mm X線照射領域＜サンプル面積 ?樹脂種類 ?Cd→Pb、Brなど ?Pb→Mg～Zn 蛍光X線強度影響因子 卖酬池炸丧记锦罗责割篡臂皖填誉仑肢文伍叼咆淌附蛋窃确一巷烟备要奋JSX-000介绍JSX-000介绍 物質 － 電子 Kα（L→K遷移） 蛍光X線 Kβ（M→K遷移） X線 Lα（M→L遷移） Lβ（N→L遷移） 蛍光X線 Lγ（O→L遷移） Hg（水銀）、Pb（鉛） Cd（カドミ）、Cr（クロム）、Br（臭素） 50kV 原子核 － 電子 空孔 － － － － L K － － － － － － M － 篆坝嘘赤烂扑遏迎仲妆倔阂永妥咨宋号曹夕联弓汽娃缴帖旗昨元酉释毕厅JSX-000介绍JSX-000介绍 凰准吴忽孜望梁捏布蘑搂幅泄贼扳酶址争浚鄙逊打钩溯蜕夷幸沟亥男厦曰JSX-000介绍JSX-000介绍 サンプル：PVC系カドミウム標準試料（㈱多摩分析センター） 4.8ppm 9.9ppm 24.1ppm 46.4ppm 97.2ppm PVC系Cd標準試料 　　　 　　測定条件 管電