* 测试配置: 同光输入口允许频偏测试配置。 测试步骤: a 按图接好电路; b 按被测接口速率等级,SDH分析仪(发送)送适当的测试信号。 c 在被测设备输出口,用SDH分析仪(接收)接收测试信号。 d 断开输入光信号,SDH分析仪(接收)应收到AIS信号。 e 从SDH分析仪(接收)上读出AIS的速率。 设备测试原理 * 抖动和漂移 定义: 抖动和漂移与系统的定时特性有关。定时抖动(抖动)是指数字信号的特定时刻(例如最佳抽样时刻)相对其理想时间位置的短时间偏离。所谓短时间偏离是指变化频率高于10Hz的相位变化。而漂移指数字信号的特定时刻相对其理想时间位置的长时间的偏离,所谓长时间是指变化频率低于10Hz的相位变化。 设备测试原理 * 抖动性能规范: 1)输入抖动容限: 输入抖动容限分为PDH输入口的(支路口)和STM-N输入口(线路口)的两种输入抖动容限。 a、对于PDH输入口则是在使设备不产生误码的情况下,该输入口所能承受的最大输入抖动值。 b、线路口(STM-N)输入抖动容限定义为能使光设备产生1dB光功率代价的正弦峰—峰抖动值。这参数是用来规范当SDH网元互连在一起接传输STM-N信号时,本级网元的输入抖动容限应能包容上级网元产生的输出抖动。 设备测试原理 * 抖动与漂移性能 2)输出抖动 与输入抖动容限类似,也分为
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