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ICP-MS/MS使用MS/MS功能，消除痕量元素分析中的质谱干扰 ? 安捷伦科技在 2012 年 1 月隆重推出世界上首款电感耦合等离子体串联质谱仪 8800 ICP-MS/MS。本文作为后续跟踪报道，将 8800 ICP-MS/MS 的性能与现有四极杆 ICP-MS进行了对比，还将详述该串联质谱仪 (MS) 的硬件及其 MS/MS 模式独有的分析优势。 图 1. 安捷伦 8800 ICP-MS/MS 示意图。（放大图片） ICP 三重串联四极杆实现 MS/MS 分析 8800 串联质谱仪配置两个四极杆：第一个四极杆 (Q1) 位于碰撞/反应池之前， Q1 作为第一级质量过滤器（MS/MS 模式），将剔除目标分析离子以外的所有离子。因此，MS/MS 模式能够确保进入碰撞/反应池 (CRC) 的离子均在控制之中并且不因样品基体的变化而受影响。MS/MS 提供了全新的途径，能够通过化学反应消除 ICP-MS 中的质谱干扰，并确保基质的变化或其他分析元素均不会影响目标分析物的测定。 对于配备 CRC 的传统四极杆 ICP-MS (ICP-QMS)，样品在进入反应池之前无法进行质量过滤，因此样品中的所有离子都会进入反应池。在测定不同基体的样品时，由于基质引起的多原子离子会对待测离子产生新的干扰。即使样品基质经过良好的处理且能够保持一致（如采用高纯半导体级试剂），共存分析物的含量也可能