【2017年整理】晶体光学名词解释.docVIP

光性均质体：指光学性质各方向相同的晶体。包括等轴晶系的矿物和非晶质物质。 光性非均质体：光性非均质体的光学性质因方向不同而改变（各向异性）。 包括中级晶族(一轴晶)和低级晶族(二轴晶)的矿物。 （1）双折射：光波射入非均质体，除特殊方向外，将分解成振动方向互相垂直，传播速度不同，折射率不等的两种偏光，这种现象称为双折射。 （2）双折射率：两种偏光的折射率值之差称为双折射率。许多晶体光学现象与此有关。 （3）光轴：光波沿非均质体的特殊方向入射时，不发生双折射，这种特殊的方向称为光轴。 中级晶族具有一个这样的特殊方向，称为一轴晶矿物；低级晶族具有两个这样的特殊方向，称为二轴晶矿物。 光率体：是表示光波在晶体中传播时，折射率值随光波振动方向变化的一种立体几何图形或一种光性指示体。其作法是设想自晶体中心起，沿光波振动方向按比例截取相应的折射率值，再把各个线段的端点连接起来便构成了光率体。 均质体光率体：其传播速度不因振动方向不同而发生改变，即折射率值各方向相等。 均质体光率体是一个球体，球体的半径代表该晶体的折射率。 一轴晶光率体（中级晶族晶体的光率体）：一轴晶光率体是一个以C轴为旋转轴的旋转椭球体。 光性方位：指光率体在晶体中的位置，即光率体主轴（No、Ne轴或Ng、Nm、Np轴）与结晶轴（a、b、c轴）之间的相互关系。对低级晶族（二轴晶）矿物具有重要的鉴定意义。 解理：矿物受外力作用后沿一定结晶学方向裂成光滑平面的性质，是鉴定矿物的特征之一。在显微镜下见到的不是解理面本身，而是解理面与薄片平面的交线，这些交线一般为明显的黑线，称为解理缝。 解理缝的成因：磨制薄片时，由于受机械力作用，矿物沿解理面裂开，其间充填树胶。N矿与N胶有差值，光线通过矿物与树胶的界面时发生折射、反射，致使光线发生聚敛和分散，光线聚敛的部位形成亮线，即贝克线，光线亏损的部位形成暗带，即解理缝。 解理的完善程度分为三级： 1.极完全解理：解理缝细，密，长，贯穿整个晶体 2.完全解理：间距等宽，不连续 3.不完全解理：不连续 解理缝可见临界角：解理面与切面有交线，理论上会见到解理纹，但由于光学原理，交角增大到某一极限值时，显微镜下就见不到它了，这个极限值就叫做解理纹可见临界角。即当小于临界角时才能见到解理缝。解理缝纹可见临界角取决于N矿与N胶的差值，差值愈大，临界角愈大；差值愈小，临界角愈小。 （1）突起 矿物表面“高出”薄片平面，类似于“正地形”的现象。突起就是矿物这种“高低不平”的现象的。突起也是光线通过矿片后产生的一种光学效应，是人对矿物边缘和糙面的一种综合视觉，并不代表矿物表面的实际高低。 因为边缘和糙面的显著程度取决于N矿和N胶的差值，所以实际上突起的高低主要取决于N矿与N胶的差值，差值愈大，突起愈高；差值愈小，突起愈低。 （2）突起正负及等级的划分 （突起正负是以加拿大树胶的折射率为标准） 根据N矿、N胶的相对大小，突起分为正突起和负突起：N矿＞N胶，为正突起；N矿＜N胶，为负突起。即负突起矿物，折射率小于1．54；正突起矿物，折射率大于1．54。 “正、负”是指矿物折射率是“大于”还是“小于”树胶的折射率，并不是指突起是向上还是向下。 突起分为6个等级。 闪突起：旋转物台时，矿物(一般是无色矿物)切面的突起时高时低，发生闪动变化。突起高时，边缘、糙面较明显，矿物表面灰度深；突起低时，矿物边缘、糙面不显，表面亮度大。这种现象类似于颜色的吸收性(后述)变化，因此又将闪突起称为假吸收。 产生原因：同一矿物颗粒不同方向上折射率差值较大 闪突起是无色或极淡色调透明矿物的鉴定特征之一。 闪突起的能见度首先取决于矿物的最大双折射率，只有那些最大双折射率较大的，而且最大最小折射率分别处于两个不同突起等级的折射率范围的矿物才能观察到闪突起。 2.全消光(永久消光)： 旋转物台一周，均质体或非均质体垂直光轴切片的消光现象（黑暗）不改变。 *所有均质体任意方向的切片、非均质体垂直光轴的切片 3.四次消光： 旋转物台一周，非均质体晶体非垂直光轴切片的光率体椭圆半径有四次与下偏光镜平行的机会，故出现四次黑暗（消光）现象。 *非均质体除垂直光轴外其它方向的切片，当椭圆切面的长短半径平行上、下偏光镜振动方向时消光，当椭圆切面的长短半径斜交上、下偏光镜振动方向时明亮 消光位： 非均质体非垂直光轴切片在正交偏光镜间处于消光现象时的位置记为消光位。 (一)、补色法则 在正交偏光镜间的450位置，放置两个互相重迭的非均质体矿片(垂直光轴方向切片除外