高精度ADC测试技术研究.doc

高精度ADC测试技术研究 中国电子科技集团公司第58研究所 朱江 解维坤 章慧彬 摘要： 随着高性能ADC器件不断地出现，传统的ADC器件测试评价方法已经越来越不适用于新出现的高性能ADC器件。为从工程上实现高性能ADC器件的测试评价，本文提供了一种高性能ADC器件关键参数评价的新算法，同时在文章中详细的分析新算法的原理并且论证了新算法的正确性。目前这些算法已经大量的应用到实际高性能ADC器件的测试评价中去，解决了高性能ADC器件难以评价的问题。 关键词：高精度ADC；微分非线性；积分非线性 Research on testing technology of high quality ADC Abstract: With the emergence of high quality ADC, the traditional technology of testing isn’t fit for the new ADC. In order to evaluate high quality ADC, this paper focuses on a new technology for new ADC’s test. In this paper the new technology is described and proved clearly.the conception and technology of ADC Testing and the source of Ultraflex system are described.Now this technology has been used in actual high quality ADC’s test . Key Words：high quality ADC；INL；DNL 引言 随着数字信号处理技术和数字电路工作速度不断地提高，以及对系统灵敏度等要求的不断提高，很多系统（例如通讯系统、图像处理系统）中应用的ADC/DAC器件的性能指标也变得越来越高，传统的测试方法已经渐渐的不适用于这些高性能ADC/DAC器件的测试评价，因此研究高精度的ADC/DAC的测试原理和和寻找新的测试方法就具有很重要的意义。本文重点介绍的是一种应用于高精度ADC参数测试的新算法。 ADC主要参数及测试原理介绍 从测试角度可以将ADC器件看作一个黑箱子，它仅有两种或三种外部的输入或输出： 模拟信号输入部分：ADC器件的输入一般采用两种形式，单端输入和差分输入，有些器件通过配置同时支持双端和单端应用。差分输入的抗干扰能力高于单端输入，双端应用的性能指标也优于单端应用。 数字信号输出部分：也分为两种接口形式，串行输出和并行输出，大部份采用CMOS电平，但在数据传输速率很高时，为保证数据传输的可靠性电路会采用并行LVDS差分模式来实现数据传输，目前在速度越来越高，并且简化接口的趋势下，已经有高速ADC/DAC电路采用高速串行差分模式进行数据传输。 控制部分：ADC器件的控制部分主要包括模式选择、待机、内外基准选择等，功能复杂的ADC采用SPI等串行总线配置寄存器对电路进行控制。 图1）ADC接口示意图 ADC的测试主要是围绕着这些接口进行测试分析，ADC的直流参数测试部分主要包括电压基准、工作和待机电流、输入输出电平、积分非线性、微分非线性、增益误差、零点误差等，ADC的交流参数测试部分主要包括输出数字信号的总谐波失真度、有效位数、信噪声失真比、无失真动态范围、信噪比、互调失真等。ADC的时间参数测试部分主要包括通讯接口时序、转换时序和转换建立时间等。 本篇论文的主要内容是介绍一种新的用于高精度ADC器件直流参数测试的新算法，同时讨论一下在ADC器件交流参数测试中会出现的问题、原因和解决办法。 直流参数 积分非线性（INL） 积分非线性表示了ADC器件在所有的数值点上对应的模拟值和真实值之间误差最大的那一点的误差值，也就是输出数值偏离线性最大的距离。单位是LSB。 图1)INL示意图 这项参数的测试原理图框图如下所示： 图2）DC参数测试原理图 理论测试方法简介如下： 将待测ADC电路接入测试系统； 调节输入端电压，由J码变为J-1码，记下输入电压V1；再调节输入电压使J-1码变为J码，记下输入电压V2；同理J码变为J＋1码再J＋1码变为J码分别记录V3、V4，J码的实际码宽中心值Vja=(V1+V2+V3+V4)/4,分别测试所有码的实际码中心值； 根据b）的数据选用合适的数学方法确定拟合最佳拟合直线，得到第J码的模拟输入量Vjc； 由b)项和c)项的数据相比较，取其偏差的绝对最大值dVmax，由下式计算出EL：EL＝dVmax/VLSB 微分非线性(DNL) 理论上说，模数