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第八章 LED可靠性与测试技术 8.1 可靠性理论基础 8.2 LED寿命测试方法 8.3 LED失效分析 8.4 改善LED可靠性的关键技术 第八章 LED可靠性与测试技术 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.1 可靠性理论基础 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.2 LED寿命测试方法 §8.3 LED失效分析 §8.3 LED失效分析 §8.3 LED失效分析 §8.3 LED失效分析 §8.3 LED失效分析 §8.3 LED失效分析 §8.3 LED失效分析 §8.3 LED失效分析 §8.3 LED失效分析 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 §8.4 改善LED可靠性的关键技术 2. 散热通道分析 在衬底背镀AuSn或AgSn等合金材料，用共晶的方法将芯片接合到热沉上，效果要比用银胶固晶好得多。 AuSn和AgSn的导热系数分别为58 W/mK和50 W/mK，导热能力明显高于银胶，且因为衬底与热沉之间形成了良好的合金层，故其固晶粘合力大大增加，提高了LED的可靠性。 共晶固晶方法在大功率晶体管和IC封装中已是成熟的技术，移植到LED封装中不会存在太大的困难。 一. 散热技术 2. 散热通道分析 ③Lxx封装的热沉与散热铝片之间是用导热胶粘合的。由于导热胶的导热系数不高（只有0.5～2.0 W/mK），如果粘合不良（如