XRD法快速测定铝电解质中的锂含量.docVIP

帕纳科第十一届中国用户X 射线分析仪器技术交流会”论文投稿 XRD法快速测定铝电解质中锂含量 李建智 陕县恒康铝业有限公司 三门峡 472100 摘要：此方法已经成功的用于日常分析，由于新方法的测量时间比化学法缩短了2160倍，用10秒钟代替了6小时。而且新方法测量的重现性优于化学法，新方法提供的数据及时监控生产工艺。为节能减排做出了重大贡献。 关键词：X射线衍射技术， 铝电解质，氟化锂分析， 定量相分析 氟化锂在电解质中可以降低电解质的初晶温度，增加其导电性（1，2），自1888年霍尔提出铝电解工艺时，就将电解质中加入锂作为一项专利，这些年来，人们为了降低电解质的初晶温度，为了节能减排经常化高价购买锂盐加入到电解质中，由于锂盐成本太高，所以近年来很少再有人加入锂盐。 但是在铝电解过程中，由于有些氧化铝原料中含有较高的锂，日积月累，电解槽里富集了一部分氟化锂，使电解质成分发生了变化，而一些冶炼者并不知道这些情况，仍旧按照以前的电解工艺生产，而这时由于氟化锂在电解质中含量逐渐增加，造成衍射仪测出的分子比值明显升高。数据证实：电解质中，氟化锂含量低于1%时衍射仪分析值与化学法分析值接近，当含量大于1%以上时，衍射仪的测量值与化学值相差比较非常大，这是由于化学法给出的分子比值是氟化钠与氟化铝之比，没有考虑到呈碱性的氟化