数字电子技术实验指导.docVIP

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数字电子技术实验指导

《数字电子技术基础》 实验指导书 广东海洋大学信息学院 二0一五年二月 目录 实验一 TTL集成与非门的逻辑功能与参数测试 3 实验二 74LS138译码器逻辑功能测试及应用 7 实验三 触发器逻辑功能测试及应用 11 实验四 计数器逻辑功能测试及应用 14 附录 《数字电子技术基础》实验报告的撰写格式与要求 18 实验一 TTL集成与非门的逻辑功能与参数测试 一、实验目的 1.掌握TTL与非门逻辑功能; 2.掌握TTL与非门逻辑功能和主要参数的测试方法。 二、实验内容及步骤 被测与非门74LS20电路图如图1-1所示。 图1-1 检查集成门电路的好坏,将测试的逻辑值填入表1中。 表1 2、TTL与非门的主要参数测试: (1)低电平输出电源电流ICCL= 。 测试条件:VCC=5V,输入端悬空,输出空载,如图1-2(a)所示。 (2)高电平输出电源电流ICCH= 。 测试条件:VCC=5V,两输入端悬空,两输入端接地,输出空载,如图1-2(b)所示。 (3)低电平输入电流IIL= 。 测试条件:VCC=5V,被测输入端通过电流表接地,其余输入端悬空,输出空载,如图1-2(c)所示。 (4)高电平输入电流IIH= 免测(无微安表) 。 测试条件:VCC=5V,被测输入端通过电流表接VCC,其余输入端接地,输出空载,如图1-2(d)所示,每个输入端都测一下。 图1-2 3、(1)测试与非门74LS20的输出端允许灌入的最大负载电流IOL= 。 测试方法:如图1-3所示,VCC=5V, 门的输入端全部悬空,输出端接灌电流 负载RL,调节RL,使IOL增大,VOL随之 增高,当VOL达到VOLm(0.4V)时的IOL 就是允许灌入的最大负载电流。 图1-3 (2)根据实验中测得的IOL 和IIL求出TTL与非门的扇出系数NO 。 4、TTL与非门电压传输特性: (1)按图1-4接线,调节电位器R,使Vi从0V向高电平变化,逐点测量Vi和Vo的对应值,记入表2中。 表2 Vi(V) 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.23 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5 4.0 …… Vo(V) …… 图1-4 (2)根据表2中测得的数据,画出与非门的电压传输特性曲线。 三、思考题。 1、如何识别集成门的管脚号? 2、根据对与非门集成块74LS20的功能测试,得出与非门的逻辑功能, 即有 出 ;全 出 。 3、TTL与非门的某输入端悬空时,该输入端相当于接什么电平? 4、TTL与非门的多余输入端可作怎样的处理?(提供3种方法) 5、该与非门集成块74LS20的开门电压是多少? 实验二 74LS138译码器逻辑功能测试及应用 一、实验目的 1.掌握中规模集成译码器74LS138的逻辑功能。 2.掌握应用74LS138实现组合逻辑函数的方法。 二、实验内容及步骤 1、74LS20与非门逻辑功能的测试 首先将74LS20与非门的14脚接直流电源+5V,7脚接地。将一个与非门的输入端1、2、4、5脚分别接至逻辑电平开关的四个输出口,输出端6脚连接在逻辑电平显示器的一个输入口上,拨动逻辑电平开关,测试该与非门的逻辑功能,如果结果满足“见0则1、全1则0”的原则,说明该与非门正常,否则已坏;同样的方法将74LS20芯片上的另一个与非门的9、10、12、13脚分别接至逻辑电平开关的四个输出口,输出端8脚连接在逻辑电平显示器的一个输入口上,拨动逻辑电平开关,测试该与非门的逻辑功能。 2.74LS138译码器逻辑功能测试 (1)图2-1为74LS138译码器芯片的引脚排列。 其中 A2 、A1 、A0 为地址输入端, ~为译码输出端, S1、、为使能端。 图2-1 (2)首先将74LS138译码器的16脚接直流电源+5V,8脚接地。 将译码器使能端S1、、及地址端A2、A1、A0 分别接至逻辑电平开关输出口,八个输出端依次连接在逻辑电平显示器的八个输入口上,拨动逻辑电平开关,按表1逐项测试74LS138逻辑功能。如果实现的功能与表1不符,首

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