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工程材料检测方法论文 为期四个星期的小学期很快就结束了，总体来说获益不少。首先是从课堂上了解了与专业相关的许多知识，其中包括检测无机材料结构和成分的X射线衍射分析、电子显微分析、热分析以及光谱分析等分析方法。其次在水泥性能相关检测的实践中，知道了如何用维卡仪及相关配件测定水泥的标准稠度用水量以及用雷氏夹测定水泥试饼的强度，此外还有水泥其他各项指标的测定方法。再有是在这期间我们进行的课程设计，因要耗费大量的时间及精力而显得举足轻重，也让我们得到了充分的锻炼。 下面我就将近期所学的知识作如下总结： 无机非金属材料结构和成分常用的研究方法 X射线衍射分析 X射线是波长极短的电磁波，其波长范围在，波长介于紫外线和射线之间。波长在的X射线其波长与晶体中原子的间距比较接近，当它照射晶体物质时会产生衍射现象，因此常用于X射线晶体结构分析。 X射线具有波动性和粒子性双重特性。在解释X射线在传播过程中发生的干涉与衍射现象时，突出X射线的波动性，它具有一定的振动频率、波长和传播速度，并且三者之间符合公式。在考虑X射线与其他物质相互作用时，则将它看成粒子流，这种微粒子通常称为光子，X射线以X射线光子的形式辐射或吸收时，具有一定的质量、能量和动量。它们之间存在如下关系： 式中，为普朗克常数，。 可以看到，X射线的波长越短，能量越高，穿透能力就越强，通常称为硬X射线；反之，波长长的X射线能量低，穿透能力弱，成为软X射线。 X射线谱可分为两种：连续X射线谱和特征X射线谱。X射线谱是在一定条件下测量由X射线管发出的X射线的波长和强度，绘制出的X射线的相对强度随波长变化的关系曲线。利用X射线谱的实验特征规律可对材料进行结构和元素成分的分析。通过X射线衍射花样和晶体结构之间的内部联系，我们可以得知两个方面的信息：一是衍射线在空间的分布规律；二是衍射线束的强度。其中衍射线在空间的分布规律主要反映了晶胞的形状和大小，而衍射线的强度则取决于晶胞中原子的种类和位置。 在揭示衍射线空间方位与晶体结构的关系时，用到了布拉格方程： 式中，为整数，称为反射级数；角称为布拉格角、掠射角或半衍射角，角是入射线和衍射线之间的夹角，习惯上称为衍射角。 通过布拉格方程以及其他分析手段，就可以对材料的晶体进行结构和成分的分析。 2、电子显微分析 电子显微分析是利用聚焦电子束与试样物质相互作用产生的各种物理信号，分析试样物质的微区形貌、显微结构、晶体结构以及化学组成的一种分析方法。当电子束与试样物质发生作用时会产生如下变化： 辐射跃迁 X射线 EPMA（电子X射线探针微区 分析仪） 电子 物质 二次电子 SME 背散射电子 非辐射跃迁 俄歇电子 能谱仪（EDS）元素分析 透射电子 TME 在电子透镜中，静电透镜是根据电子在电场中运动时，其运动方向与电场方向不在一条直线上，电场力会改变电子运动方向这一性质制成，其对电子束的会聚作用与光学透镜对可见光的会聚作用类似。而电磁透镜的工作原理是电子在磁场中运动时电子运动的方向与磁感应强度方向不平行时，产生的垂直方向的力（洛伦兹力）使电子的运动方向发生偏转。影响电磁透镜像差和分辨率的因素有球差、像散和色差，其中以球差的影响更为显著。 透射电子显微镜采用高速运动的电子束作为照明光源，具有极高的空间分辨率，结合其他透射电镜附件和电镜技术，可以同时获取材料微观区域的形貌。成分和晶体结构等多种信息，真正实现材料微观结构信息的局域化和一一对应。作为透射电镜的主要功能之一，电子衍射是研究物质微观结构的重要手段。单晶的衍射图样为同心圆环，多晶的衍射图样为规则分布的斑点，而非晶体的衍射图样只有一个漫散的中心斑点。 扫描电子显微镜是继透射电镜发展而来的一种电子显微镜，但其成像原理和光学显微镜或透射电镜不同，它是以电子束作为照明源，把聚焦的很细的电子束以光栅状扫描的方式照射到样品表面，产生各种与样品性质相关的信息，将这些信息加以收集和处理从而获得微观形貌放大像。扫描电镜集成像和成分分析为一体，所用的成像电子为二次电子。 此外还有扫描隧道电子显微镜以及原子力显微镜等电子显微镜。 热分析和光谱分析 热分析中常用的有差热分析、差示扫描量热分析及热重分析。 所谓差热分析是指在程序控制温度条件下，测量物质与参比物（热中性体）的温度或时间关系的一种热分析方法。 物质在加热或冷却过程中会发生物理化学变化，同时往往伴