同步辐射技术题材.pptVIP

* * * * * * * * * * 掠入射X射线散射（GISAXS）就是入射X射线掠入射到样品表面，经过样品表面层（表面薄膜）散射后再掠出射出来，测量出射的信号强度，这种方式测量时其入射－散射线构成的平面基本平行于试样表面（夹角大约为掠入射角），入射X射线穿透试样不深，测量对表面结构敏感，出射信号包含了大量的表面层散射信号。 GISAXS就是针对表面薄膜的SAXS, GISAXS能获得的信息基本上就是SAXS能获得的信息，但GISAXS结果分析时要考虑衬底表面多次反射－－散射效应，数据分析稍微复杂一点。  * 同步辐射小角X射线散射（saxs）主要应用于尺寸为1nm—100nm的纳米结构表征，可以表征固体、液体、粉末、薄膜等多种形式的样品，主要应用的领域有聚合物、纤维材料、金属材料、半导体材料等等。常见的实验方法为透射的SAXS和掠入射的小角散射 （GISAXS），这两者的区别是透射的SAXS测量的是体相结构的信息，而GISAXS则是测量的表面及表层结构，因此常用于薄膜材料的表面及表层不同深度的结构表征。而这两种实验方法又都可以做一些原位的实验，例如样品在拉伸、剪切、变温等实验环境下的结构变化，催化剂的反应过程测量。因此具有非常灵活的实验手段，可以根据需要自行加入相关设备，实现各种实验过程的有效表征。 SAXS 和 WAXS 实例 * * *