镀层测厚仪概要.pptVIP

内容 一、 X荧光测厚仪简介 二、 X荧光测厚原理 三、测试描述及举例 四、 样品要求 一、测厚仪简介 荧光分析的样品有效厚度一般为≤0.1mm。 （金属≤0.1ｍｍ；树脂≤3ｍｍ） ▲有效厚度并非初级线束穿透的深度，而是由分析线能够射出的深度决定的！ 一、X射线荧光测厚原理 1、X射线产生 X射线波长略大于0.5纳米的被称作软X射线。波长短于0.1纳米的叫做硬X射线。 产生X射线的最简单方法是用加速 后的电子撞击金属靶。撞击过程中，电子突然减速，其损失的动能（其中的1％）会以光子形式放出，形成 X光光谱的连续部分，称之为制动辐射。通过加大加速电压，电子携带的能量增大，则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴，外层电子跃迁回内层填补空穴，同时放出波长在0.1纳米左右的光子。由于外层电子跃迁放出的能量是量子化的，所以放出的光子的波长也集中在某些部分，形成了X光谱中的特征线，此称为特性辐射。 二、 X荧光测厚原理 入射X射线激发原子的内层电子，使电子层出现空洞，原子成为不稳定状态（激发状态），外层电子进入空洞而使原子成为稳定状态，多余的能量释放出来，这个能量就是荧光X射线。 测厚仪基本构造 基本配置 100瓦微聚焦钨丝光管 高可靠性、长寿命、高分辨率Si-PIN探测器 25mm2 探测器灵敏窗口、可有效提高检测下限，分辨率可达250eV （不算高） 多准直器0.1, 0.2, 0.3, and 1.27mm ? 4个初级滤光片以提高信噪比，改善检测下限 三、测试过程描述及举例 金属镀层厚度分析(FP法) ROHS有害元素筛查 金属元素定性光谱分析及波普扫描 镀液元素分析 金属镀层分析(FP法) FP（基本参数）法：先测标准片建立校准再测样品。如Ni-Cu 金属镀层分析(FP法) 测试步骤： 1、先建立程序(与被测样程序一致）： 基体无限厚样谱线 镀层金属无限厚样谱线 镀层金属标准薄片谱线 2、测被测样谱线 3、调整相关参数，如密度、合金比例等。 ROHS限制的六种有害物质的危害 1. 镉（Cd)的危害：镉会破坏神经系统，食入会引起急性肠胃炎、糖尿 病，直至肾衰竭，镉会引起全身骨头酸痛。 镉的半衷期长达30年，到目前为止尚无特效疗法治疗镉中毒。 2.铅（Pb):人体吸入过多的铅会危害人的神经系统，从而造成不同程度的铅中毒。儿童发生铅中毒的机会要远远超过成人。剧烈腹绞痛、头晕、全身无力、肌肉关节。疼痛、不能进食、腹泻、肌肉萎缩、血压升 高、肝脏肿大等症状。 3、溴化阻燃剂影响内分泌系统以及胎儿的生长。 ROHS有害元素筛查 ROHS 简介： ROHS检测试验方法 检出限 ROHS检测方法开发（定标） 1、 非晶焊锡要求检测铅Pb 购买了焊锡标准样品进行XRF定量分析，建立专用的焊锡Pb、Cd检测程序。（ 由于标样的原因， Pb的效果比较好）。 Pb、Cd的定标曲线 ROHS豁免(铅） ROHS豁免项： 焊锡：高温融化的焊料中的铅（即锡铅焊料合金中铅含量超过85%） 用于服务器、存储器和存储系统的焊料中的铅（豁免准予至2010年） 电子陶瓷产品中的铅如高压电陶瓷。 需开发方法的检测需求 1、 非晶带要求检测ROHS 由于找不到较理想的标样，目前还在采用其他化学方法准备标样。 2、钕铁硼材料也提出过要求 需要提供较好的标准样品，用来开发方法。 3、欢迎大家为我们提供标样和测试需求，帮助我们开发更多的方法。 镀液分析：对含有金属元素的镀液测量浓度。 采用定标样法，建立定标曲线，可以自己配。 镀液样品杯 ，方便。 四、送样要求 1、测镀层厚度时，基体中不能含有镀层中要分析的元素。 2、一般只能分析S以上的元素，轻元素不能分析。 3、需要提供镀层的密度或理论密度。 4、试样表面干净、平整。 5、试样尺寸 理论密度 理论密度：确定合金晶胞结构，算出晶胞的体积以及一个晶胞内的原子个数，由一个晶胞内的原子个数以及种类。可以算出质量，再除以晶胞的体积，这个计算的前提是知道晶胞的结构 。 可通过X衍射法确定晶格结构。 谢 谢 * X-射线镀层测厚及ROHS筛查 XRF for analysis of trace elements and coating thickness 英国牛津公司，X-Strata980 X-射线测厚仪。 XRF for analysis of trace elements and coating thickness 其前身为牛津CMI 900系列、 X-Strata920 ，但其硬件、软件、精度都有较大改进，而且购置了几乎牛