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移位寄存器功能测试及应用.doc

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移位寄存器功能测试及应用

实验八 移位寄存器功能测试及应用 一、实验目的: 1.掌握中规模4位双向寄存器逻辑功能及使用方法。 2.熟悉移位寄存器的应用,实现数据的串行、并行转换和构成环形计数器 二、实验仪器及材料 a) TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。 b) 参考元件:74LS194一片。 三、预习要求及思考题 1.预习要求: 1) 复习有关寄存器有关内容。 2)熟悉74LS194逻辑功能及引脚排列。 3)用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。 2.思考题: 1) 使寄存器 清零,除采用输入低电平外,可否采用右移或左移的方法?可否使用并行送数法?若可行,如何进行操作? 2) 环行计数器的最大优点和缺点是什么? 四、实验原理 1.位寄存器是一个具有移位功能的寄存器,是指寄存器中所存的代码能够在移位脉冲 的作用下依次左移或右移。既能左移又能右移的称为双向移位寄存器,只需要改变左、右移的控制信号便可实现双向移位要求。根据移位寄存器存取信息的方式不同分为:串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。 本实验选用的4位双向通用移位寄存器,型号为CC40194或74LS194,两者功能相 同,可互换使用,其逻辑符号及引脚图如图8-1所示。 图8-1 74LS194的逻辑符号图及引脚功能图. 其中D0、D1、D2、D3为并行输入端;Q0、Q1、Q2、Q3为并行输出端;SR为右移串行输入端;SL为左移串行输入端;S0、S1为操作模式控制端;CR为直接无条件清零端;CP为时钟脉冲输入端。 74LS194有5种不同操作模式:即并行送数寄存,右移(方向由Q0--Q3),左移(方向由Q3→Q0),保持及清零。 S1、S0和CR端的控制作用如表8-1 2、移位寄存器应用很广,可构成移位寄存器型计数器:顺序脉冲发生器;串行累加器;可用数据转换,即把串行数据转换为并行数据,或把并行数据转换为串行数据等。本实验研究移位寄存器用作环形计数器和数据的串、并行转换。 (1)环行计数器 把移位寄存器的输出反馈到它的串行输入端,就可以进行循环移位。 (2)实现数据、并行转换器 a)串行∕并行转换器 串行∕并行转换器是指串行输入的数码,经转换电路之后变换成并行输出 b)并行∕串行转换器 并行∕串行转换器是指并行输入的数码经转换电路之后,换成串行输出。 表8-1 功能 输 入 输 出 CP S1 S0 SR SL D0 D1 D2 D3 Q0 Q1 Q2 Q3 清零 × 0 × × × × × × × × 0 0 0 0 送数 ↑ 1 1 1 × × a b c d a b c d 右移 ↑ 1 0 1 DSR × × × × × DSR Q0 Q1 Q2 左移 ↑ 1 1 0 × DSL × × × × Q1 Q2 Q3 DSL 保持 ↑ 1 0 0 × × × × × × Qn0 Q1n Q2n Q3n 保持 ↓ 1 × × × × × × × × Q0n Q1n Q2n Q3n 五、实验内容 1、测试74LS194的逻辑功能完成表8-2 按图8-1接线、S1、S0、SL、SR、D0、D1、D2、D3分别接至逻辑开关;Q0、Q1、Q2、Q3接至发光二极管。CP端接单次脉冲源。按表7-1所规定的输入状态,逐项进行测试。 74LS194逻辑功能测试 (1)清除:令=0,其它输入均为任意态,这时寄存器输出Q0、 Q1、 Q2 、Q3应均为0。清除后,至=1。 (2)送数:令=S1=S0=1 ,送入任意4位二进制数,如D0、D1、D2、D3=abcd,加CP脉冲,观察CP=0、CP由1→0、三种情况下寄存器输出状态的变化,观察寄存输出状态变化是否发生在CP脉冲的上升沿。 (3)右移:清零后,令=1, S1=0 S0=1,由右移输入端SR送入二进制数码如0100,由CP端连续加4个脉冲,观察输出情况,记录之。 (4)左移:先清零或予至,再令=1 S1=1,S0=0,由左移 输入端SL送入二进制数码如1111,连续加四个CP脉冲,观察输出端情况,记录之。 (5)保持:寄存器予置任意4位二进制数码abcd,令=1,S1=S0=0,加CP脉冲,观察寄存器输出状态,记录之。 表8-2 清除 模 式 时钟 串 行 输 入 输 出 功能总结 CR S1 S0 CP SR SL D0 D1 D2 D3 Q0 Q1 Q2 Q3 0 × × × × × × × × × 1 1 1 ↑ × × a b c d 1 0 1 ↑ 0

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