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合金以急冷旋成十微米厚的薄此金的射描呈一一尖多尖端的射峰合金以急冷旋成十微米厚的薄此金的射描呈一一尖多尖端的射峰合金以急冷旋所成的薄其硬度以所成的高低一合金以急冷旋所成的薄其硬度以所成的高低一奈米晶合金表示晶粒尺寸在以下奈米晶合金表示晶粒尺寸在以下藉由冷加工理可使非晶合金薄成奈米晶合金藉由冷加工理可使非晶合金薄成奈米晶合金通常表示金的熔沸露通常表示金的熔沸露地控制理度略高於可使非晶合金成奈米晶合金地控制理度略高於可使非晶合金成奈米晶合金以光微量奈米晶合金薄晶粒尺寸是否可行是否以光微量奈米晶合金薄
( ) 將Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9 合金以急冷旋鑄機製成數十微米厚的薄帶,此時金屬的X-ray繞射掃描圖呈(A)單一寬廣(B)單一尖銳(C)許多尖端 的繞射峰。 ( A ) 將Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9 合金以急冷旋鑄機製成數十微米厚的薄帶,此時金屬的X-ray繞射掃描圖呈(A)單一寬廣(B)單一尖銳(C)許多尖端 的繞射峰。 ( ) Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9 合金,以急冷旋鑄機所製成的薄帶,其硬度較以VAR所製成的錠為(A)高(B)低(C)一樣。 ( A ) Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9 合金,以急冷旋鑄機所製成的薄帶,其硬度較以VAR所製成的錠為(A)高(B)低(C)一樣。 ( ) 奈米晶合金表示晶粒尺寸在(A)1nm以下(B)1~100nm(C)100~1000nm。 ( B ) 奈米晶合金表示晶粒尺寸在(A)1nm以下(B)1~100nm(C)100~1000nm。 ( ) 藉由(A)冷加工(B)熱處理 可使非晶合金薄帶變成奈米晶合金。 ( B ) 藉由(A)冷加工(B)熱處理 可使非晶合金薄帶變成奈米晶合金。 ( ) Tm通常表示金屬的(A)熔點(B)沸點(C)露點。 ( A ) Tm通常表示金屬的(A)熔點(B)沸點(C)露點。 ( ) 適當地控制熱處理溫度略高於(A)Tm(B)Tg(C)Tx 可使非晶合金變成奈米晶合金。 ( C ) 適當地控制熱處理溫度略高於(A)Tm(B)Tg(C)Tx 可使非晶合金變成奈米晶合金。 ( ) 以光學顯微鏡量測奈米晶合金薄帶晶粒尺寸是否可行(A)是(B)否。 ( B ) 以光學顯微鏡量測奈米晶合金薄帶晶粒尺寸是否可行(A)是(B)否。 ( ) 以X-ray繞射法量測奈米晶合金薄帶晶粒尺寸是否可行(A)是(B)否。 ( A ) 以X-ray繞射法量測奈米晶合金薄帶晶粒尺寸是否可行(A)是(B)否。 ( ) 將合金薄帶之X-ray繞射掃描圖,採用Scherrer Equation 計算晶粒尺寸需選擇(A)低角度(B)高角度(C)以上均可 的繞射峰。 ( A ) 將合金薄帶之X-ray繞射掃描圖,採用Scherrer Equation 計算晶粒尺寸需選擇(A)低角度(B)高角度(C)以上均可 的繞射峰。 ( ) Scherrer Equation t = 0.9λ/B cosθB中 t 為(A)試片厚度(B)晶粒尺寸(C)原子大小。 ( B ) Scherrer Equation t = 0.9λ/B cosθB中 t 為(A)試片厚度(B)晶粒尺寸(C)原子大小。 ( ) Scherrer Equation 中B為(A)繞射峰高(B)繞射峰底部(C)繞射峰半高寬 的徑度。 ( C ) Scherrer Equation 中B為(A)繞射峰高(B)繞射峰底部(C)繞射峰半高寬 的徑度。 ( ) Scherrer Equation 中λ為X光入射波長,若λ=0.154nm表示激發X-ray之靶材為(A)銅(B)鉬(C)鐵。 ( A ) Scherrer Equation 中λ為X光入射波長,若λ=0.154nm表示激發X-ray之靶材為(A)銅(B)鉬(C)鐵。 ( ) 在X-ray繞射掃瞄圖中,所顯示繞射峰角度為(A)θ(B)2θ(C)0.5θ。 ( B ) 在X-ray繞射掃瞄圖中,所顯示繞射峰角度為(A)θ(B)2θ(C)0.5θ。 ( ) 易形成非晶質的金屬,通常具有(A)容易(B)不容易 形成複雜的介金屬化合物。 ( A ) 易形成非晶質的金屬,通常具有(A)容易(B)不容易 形成複雜的介金屬化合物。 ( ) 易形成非晶質的金屬,通常具有(A)淺的(B)深的 共晶點。 ( B ) 易形成非晶質的金屬,通常具有(A)淺的(B)深的 共晶點。 ( ) Tg通常表示非晶質金屬的(A)液相溫度(B)結晶溫度(C)玻璃轉換溫度。 ( C ) Tg通常表示非晶質金屬的(A)液相溫度(B)結晶溫度(C)玻璃轉換溫度。 ( ) Tx通常表示非晶質金屬的(A)液相溫度(B)結晶溫度(C)玻璃轉換溫度。 ( B ) Tx通常表示非晶質金屬的(A)液相溫度(B)結晶溫度(C)玻璃轉換溫度。 ( ) Tg及Tx可藉由(A)示差掃描計(DSC)(B)X-ray繞射儀量測 得知。 ( B ) Tg及Tx可藉由(A)示差掃描計(DS
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