JEDEC JESD-标准解读【DOC精选】.doc

JEDEC JESD51-51标准解读 JEDEC固态技术协会是固态及半导体工业界的一个标准化组织，制定固态电子方面的工业标准。JEDEC曾经是电子工业联盟（EIA）的一部分：联合电子设备工程委员会（Joint Electron Device Engineering Council，JEDEC）。1999年，JEDEC独立成为行业协会，抛弃了原来名称中缩写的含义，目前的名称为JEDEC固态技术协会（JEDEC Solid State Technology Association）。 JESD51-51是其中诸多标准中的一种，主要描述的是通过电气方法测试LED的热阻和阻抗。本文通过概述标准的大致内容，摘录其中重点部分，达到一定程度上理解标准的目的。 JESD51-51 前言 简要介绍JESD51-51标准，通过图片形式反映热功率、正向电压、正向电流、光通量和结温之间的相互关系，如图1所示： 图1 LED光输出和不同量之间的关系 JESD51-51 第一章 IESD51-51标准适用的范围，主要包括如下几点： 封装LED的功率应大于0.5w，光能转换效率应高于5%，且采用直流方式供电，对于激光二极管并不适合； 只适合实验室环境的结温和热阻测试，对于大批量的测试并不适合； 对于稳态测试方法和动态测试方法均适合。 JESD51-51 第二章 JESD51-51标准的参考规范，主要有13篇，分别是： 1.JESD51, Methodology for the Thermal Measurement of Component Packages (Single Semiconductor Devices). 2.JESD51-1, Integrated Circuit Thermal Measurement Method - Electrical Test Method. 3.JESD51-12, Guidelines for Reporting and Using Electronic Package Thermal Information. 4.JESD51-13, Glossary of Thermal Measurement Terms and Definitions. 5.JESD51-14, Transient Dual Interface Test Method for the Measurement of Thermal Resistance Junction-to-Case of Semiconductor Devices with Heat Flow through a Single Path. 6.JESD51-50, Overview of Methodologies for the Thermal Measurement of Single- and Multi-Chip, Single- and Multi-PN-Junction Light-Emitting Diodes (LEDs). 7.JESD51-52, Guidelines for Combining CIE 127-2007 Total Flux Measurements with Thermal Measurements of LEDs with Exposed Cooling Surface. 8.JESD51-53, Terms, Definitions and Units Glossary for LED Thermal Testing. 9.CIE S 017/E:2011 ILV, International Lighting Vocabulary. 10.CIE 127:2007 Technical Report, Measurement of LEDs, ISBN 978 3 901 906 58 9. 11.MIL-STD-750D METHOD 3101.3, Thermal Impedance (Response) Testing of Diodes. 12.ANSI/IESNA IES Nomenclature Committee, IES RP-16-10, Nomenclature and Definitions of for Illuminating Engineering, ISBN 978-0-87995-208-2 13.ANSI/IESNA IES-LM-80, Approved Method for Measuring Lumen Maintenance of LED Light Sources, ISBN 978-0-87995-2