ICS29045.docVIP

ICS 29.045 H82 中华人民共和国国家标准 GB/T 26071-201X 代替 GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶片 Mono-crystalline silicon as wafers for photovoltaic solar cells （预审稿） ????? XXXX - XX - XX发布 XXXX - XX - XX实施 前 言 本标准按照GB/T 1.1—2009给出的规则起草。 本标准代替GB/T 26071—2010《太阳能电池用硅单晶切割片》。 本标准与GB/T 26071—2010相比，主要有以下变动： 将4.1中“按外形可分为准方形和圆形两种”修改为“按外形可分为准方形和方形两种”，取消圆形，增加了方形 修改了电阻率测定引用标准，GB/T 1551替代了GB/T 1552； 增加引用标准GB/T 6619、GB/T 30859、GB/T 30860和GB/T 30869； 增加GB/T 6619 硅片弯曲度测试方法； 增加边长157mm×157mm和160mm×160mm的准方形硅片及其要求； 增加圆形硅片按直径或对角线长度尺寸(205mm和(210mm的要求及允许偏差痕 太阳能电池用硅单晶片 范围 本标准规定了太阳能电池用硅片的GB/T 1550 非本征半导体材料导电类型测试方法 GB/T 1551 硅单晶电阻率测定方法 GB/T 1555 半导体单晶晶向测定方法 GB/T 6616 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法 GB/T 6618 硅片厚度和总厚度变化测试方法GB/T 6619 硅片弯曲度测试方法 GB/T 6620 硅片翘曲度非接触式测试方法 GB/T 25076 太阳电池用硅单晶GB/T 26068 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 GB/T 2828.1 计数抽样检验程序 第一部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB/T 30859 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法 GB/T 30860 太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法 GB/T 30869 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法 YS/T 28 硅片包装 术语和定义 GB/T 14264界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 线痕 saw marks 在线切割过程中产生于硅片表面的切割痕迹。 要求 产品分类 硅片按导电类型分为P型、N型两种类型；按外形可分为准方形和方形两种。 牌号 硅片牌号的表示按GB/T 14844规定。 规格 准方形硅片按其边长分为100.75mm、125.75mm、156I、156Ⅱ、156Ⅲ、210.75mm，或由供需双方商定规格。 按直径或对角线长度尺寸分为(126mm (151mm、(156mm、(165mm、(200mm 、(205mm、(210mm、(219mm 和(291mm。 方形硅片按其尺寸可分为100.75mm、125.75mm、156.75mm、210.75mm ；其他尺寸规格可由供需双方协商确定。 技术参数 尺寸规格要求及允许偏差 厚度及厚度变化 硅片厚度用户有特殊要求时，由供需双方商定。 单位为微米 硅片厚度允许偏差 总厚度变化 TTV 弯曲度 bow 翘曲度 warp 160±15 ≤30 ≤50 ≤50 180±20 190±20 200±20 4.1.1.2 准方形硅片外形几何尺寸及其允许偏差有特殊要求，由供需双方商 太阳能用准方形硅单晶片尺寸 准方形硅尺寸 单位为毫米 类型 标称尺寸 尺寸 A B1（直径） 100.75 100.75±0.25 126±0.25 S 125I 125±0.25 150±0.25 125Ⅱ 125±0.25 156±0.25 125Ⅲ 125±0.25 165±0.25 M 156M0 156±0.25 200±0.25 156.75M1 156.75±0.25 205±0.25 156.75M2 156.75±0.25 210±0.25 L 160 160±0.25 210±0.25 210.75 210.75±0.25 291±0.25 注1:SEMI PV22中表示为D。 方形硅片外形几何尺寸及其允许偏差有特殊要求，由供需双方商 图2 太阳能用方形硅单晶片尺寸 方形硅片尺寸及允许偏差 单位为毫米 标称尺寸 尺寸 A 片边缘长度 G 对角H 倒角长度