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年月日适用于半导体行业的最新产品系列和更宽视野更快检测高效率的检验系统德国韦茨拉尔半导体行业的晶片检验过程控制和缺陷分析都必须快速精确及符合人机工程学徕卡显微系统有限公司最近推出了符合这些要求的最新系列产品即适用于英寸晶体的和适用于英寸晶体的宏观模式下优化的视野和光学检验显微镜集成的宏观模式使它们可以提供倍于常规扫描物镜的视场因此用户可以对整个扫描区域进行精确的缺陷检测照明工作环境更清晰和显微镜的照明集成在它们的支架中由于没有附带灯箱的干扰显微镜四周的气流环境极佳此外集成在和显微镜中的现代设备还

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