JTAG口及其对Flash的在线编程.docVIP

JTAG口及其Flash的在 文章作者：李 蒙 舒云星文章 文章加入2003年9月11日1:22 文章出 ??? 摘要：通JTAG实现对Flash在JTAG的定JTAG状态机的工作原理。然后，介绍JTAG口的JTAG在Flash的JTAG实现Flash的 ??? 关键词：JTAG Flash 在 随着嵌入式技术的发展，在一些高端的掌上设备中，都使用了Flash芯片，如Compaq的iPAQ、Flash进行擦除和改写的工作，因此，如何对Flash进行在线编程是问题的关键所在。本文介绍一种通过JTAG对Flash进行的在线编程方法。 1 JTAG简介 JTAG（Joint Test Action Group）是1985年制定的PCB和IC芯片的一1990年被修改后成IEEE的一IEEE1149.1-1990。通JTAG口芯片的硬件图1 TAP控制器的??? 具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引 TCK——测试时钟输入； TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口； TDO——TDO从JTAG口 TMS——测试模式选择，TMS用JTAG口 可TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。 含有JTAG口的芯片种CPU、DSP、CPLD等。 JTAGTAP控制器。TAP控制器的TCK和TMS1为TAP控制器的2 JTAG芯片的 JTAG标准定义了一个串行的移位寄存器。寄存器的每一个单元分配给IC芯片的相BSC（Boundary-Scan Cell）BSC在ICJTAG回路，所有的BSR（Boundary-Scan Register）JTAG测试激活，平时这些引脚保持正常的IC功能。2为具有JTAG口的ICBSR单元与引脚的关系。 3 JTAG在Flash的硬件PC的 以含JTAG接口的StrongARM SA1110Flash为Intel 28F128J32 16MB容量。SA1110的JTAG的TCK、TDI、TMS、TDO分PC并口的2、3、4、11JTAG口的控制指令和目PC的并口JTAG的BSR中。在PCB时，必须将SA1110的Flash的地SA1110的BSC，只要用JTAG指令BSC中，就可通BSC对应的引脚将信号送给Flash，Flash的操作。JTAG的系3所示。 4 通TAP状态机的指令实行对Flash的操作 通TCK、TMS的JTAG设置为接收指令或数据状态。JTAG常用指令如下： SAMPLE/PRELOAD——用此指令采BSC内容或将数据写入BSC单元； EXTEST——当执行此指令时，BSC的Flash的； BYPASS——此指令BSC的移位回路中，即TDI和TDO之 在PCBJTAG的控制指令，通TDI送入JTAG控制器的指令寄存器中。再通TDI将要写Flash的地址、BSR中，并BSC中，用EXTEST指令通BSC将写入Flash。5 在Flash的程序用Turbo CPC的并行口，JTAG的芯片Flash芯片。程序先PC的并口初始化，JTAG口复位和Flash，判Flash之前，必JTAG芯片EXTEST模式，通PC的并口，JTAG写入Flash，并在4所示。 通JTAG的ID子程序如下： void id_command(void){ putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle;使JTAG复位 putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle putp(1,1,IP); putp(1,1,IP); // putp(1,0,IP); //捕 putp(1,0,IP); /移位指令寄存器 putp(0,0,IP); //SA1110JTAG口指令5位，IDCODE01100 putp(1,0,IP); putp(1,0,IP); putp(0,0,IP); putp(0,0,IP); putp(0,1,IP); //退出指令寄存器 putp(1,1,IP); //更新指令寄存器， putp(1,0,IP)； //Run-Test/Idle putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle putp(1,1,IP); putp(1,0,IP); if(check_id(SA1110ID)) error_out(failed to read device ID for the SA-1110); putp(1,1,IP); //退出 putp(1,1,IP); //更新 putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle,使JTAG复