第三节正交偏光镜下的晶体光学性质.pptVIP

第三节 正交偏光镜下的晶体光学性质 3 干涉色高低的影响因素 矿物性质 矿物的切面方向 矿片厚度 平行光轴或光轴面最大 垂直光轴没有光程差 其余在两者之间 R=d(Ng-Np) R—光程差,d—矿片厚度, Ng-Np—双折率 干涉色高低取决于光程差 3·干涉色色谱表 表示干涉色的级序、光程差、双折射率及薄片厚度之间关系的图表称为干涉色色谱表 横坐标：光程差R及相对应的干涉色级序。单位：毫微米 纵坐标：薄片厚度。单位：毫米 原点放射线：双折射率 色谱表表示R、D、（Nd－Np）三者之 间的关系。只要知道其中的两项就能 求出第三项。 第三节 正交偏光镜下的晶体光学性质 三、补色法则及补色器 1·补色法则 A补色法则 在正交偏光镜间，两非均质体除垂直光轴外任意方向切面在45度位置重叠时，光通过此两晶体薄片后的光程差增加或减少 设非均质体的晶体薄片的光率体椭圆半径为N1N2，光波透入每一块薄片后双折射分解为二偏光，透出薄片后光程差为R1。另一薄片的光程差为R2 将两薄片在正交偏光镜的45度位置重叠，必产生一总光程差R。R是增还是减，取决于二薄片的重叠方式，即重叠时光率体椭圆的相对位置 第三节 正交偏光镜下的晶体光学性质 B、薄片重叠情况 当两薄片的光率体同名半径重叠，光透过两薄片后的总光程差R＝R1＋R2，RR1，RR2。R增大，干涉色升高 当两薄片的光率体异名轴重叠，R＝R1－R2或R＝R2－R1可能出现： a：RR1，RR2； b：RR1，RR2； c：R1RR2。 三种情况中无论哪一种，R反映的干涉色比原两薄片都低或比其中某一块薄片的干涉色低。所以有：异名轴重叠。干涉色色序降低 小结 同名轴重叠，总光程差为R＝R1＋R2，干涉色升高。 异名轴重叠: R为两薄片的光程差之差，其干涉色色序降低（总比二薄片中干涉色级序高的要低； 若两薄片的光程差相等，总光程差为0，视域消色变黑 第三节 正交偏光镜下的晶体光学性质  2、补色器 补色器就是已知光率体椭圆半径名称及光程差的晶体薄片 作用 在两晶体薄片中如一个薄片的光率体椭圆的半径方向名称及光程差已知，则可根据补色法则测定另一晶体薄片的光率体椭圆半径的名称。 常用补色器有如下几种： A、石膏板 天然石膏或石英片（平行光轴面）镶嵌于长条形金属孔中，试板Np（快光）振动方向与长边平行，注明于试板上 光程差一个黄光波长，550毫微米，正交偏光镜下为一级紫红 在晶体薄片上加上石膏板，可以使干涉色升高或降低整整一级色序。 石膏板只能应用于二级黄以下的干涉色晶体薄片 应特别引起注意的是当异名轴重叠，而薄片的干涉色又很低时，视域的干涉色是升高的，这是因为干涉色是在补色器一级紫红的基础上降低 第三节 正交偏光镜下的晶体光学性质 B、云母板 形状同石膏板，长边为快光方向 光程差为147毫微米，约相当于四分之一个黄光波长 正交偏光下的干涉色为一级灰。与晶体薄片叠加，升降一个色序 云母板适用于干涉色较高的（二级黄以上）晶体薄片。如 升：兰…绿…黄…红…兰… 降：兰…红…黄…绿…兰… 第三节 正交偏光镜下的晶体光学性质 C、石英楔 石英沿光轴方向磨成楔形，镶嵌于金属框中 R＝0～1680。在正交偏光镜间由薄到厚端，可以产生一级到三级干涉色 随石英楔推入，与晶体薄片同名轴重叠，干涉色连续上升 异名轴重叠，干涉色连续下降，当石英楔R与薄片相等时，晶体出现消色而呈深灰色。 第三节 正交偏光镜下的晶体光学性质 四、干涉色级序测定 干涉色与光程差相关，但相同干涉色的光程差不一定相等，要测定R就必须测定干涉色的级序。其方法有： 1、边缘测定法 边缘测定法是利用晶体碎屑边缘斜坡的干涉色环判断干涉色级序的方法 颗粒斜坡，其厚度自边缘向中心渐增。干涉色亦自边缘向中心渐升。但斜坡陡而短，虽象石英楔，但很难显示出连续的干涉色。一般只能把显眼的红色显示出来。 红色是每级的顶部颜色，观察颗粒边缘有无红带及有几级红带即可确定干涉色的级序。 如边缘出现一条红带，晶体干涉色为绿，则干涉色级序为二级绿。 特别地，颗粒边缘出现兰或深兰（有时近于黑）色带，它代表一级红带，应视为一红带数目 第三节 正交偏光镜下的晶体光学性质 只有测定最大双折射率才有意义，测定必须在定向切面上进行。 二轴晶应选择光轴面，一轴晶应选择平行光轴面来测定双折射率。这种切面在偏光镜下的特征是：干涉色最高。 根据R＝D（Ng－Np），当测定薄片的厚度和光程差后，即能确定双折射率。 通过石英楔测出晶体颗粒的最高干涉色，然后查表求出双折射率数据。其方法是： 1·选择最高干涉色切面，测出干涉色的级序 2·以干涉色色谱表查出光程差 3·估计薄片厚度 4·查表或代入公式计算出双折射率。 第三节 正交偏光镜下的晶体