第四章x射线衍射分析应用1指标化和晶格常数.pptVIP

第三章内容回顾 对于多晶粉末的情况，反射球交于倒易畴中心处的衍射最强，交于中心之外的倒易畴对应的衍射较弱。如果小晶粒较多，倒易畴较大，偏离倒易畴中心的衍射较多，导致衍射峰的宽化。 晶格畸变导致同一晶面的衍射矢量的大小有一定分布，增大了衍射的机会，也会导致衍射线的宽化。 因此利用衍射线的线形分析可以进行晶粒大小和晶格畸变的测定。 第四章 x射线衍射分析应用 物质对x射线的衍射产生了衍射花样或衍射谱，对于给定的单晶试样，其衍射花样与入射线的相对取向及晶体结构有关；对于给定的多晶体也有特定的衍射花样。 测定衍射花样三要素(峰位置、峰强度和线型)在不同状态下的变化，是衍射分析应用的基础。 基于衍射位置的应用 ⑴ 点阵参数的精确测定，膨胀系数的测定； ⑵ 由点阵参数测定相平衡图中的相界； ⑶ 固溶体类型的测定，固溶体组分的测定； ⑷ 薄膜厚度的测定； ⑸ 第一类（即宏观残余）应力的测定； ⑹ 晶体取向的测定； ⑺ 多晶材料中层错几率的测定；8⑺ 点缺陷引起的Bragg峰的漂移。 基于衍射强度测量的应用 (1) 物相的定量分析，结晶度的测定 (2) 微观应力的测定； (3) 有序固溶体长程有序度的测定； (4) 多晶体材料中晶粒择优取向的极图、反极图和三维取向分布的测定； 基于衍射线型分析的应用 (1) 晶粒大小和微应变的测定； (2) 多晶材料中位错密度的测定，层错能的测定，晶体缺陷的研究 基于衍射位置和强度的测定 (1) 物相的定性分析 (2) 相消失法测定相平衡图中的相界; (3) 晶体(相)结构,磁结构,表面结构,界面结构的研究 同时基于衍射位置、强度和线型的Rietveld多晶结构测定 需输入原子参数（晶胞中各原子的坐标、占位几率和湿度因子）、点阵参数、波长、偏正因子、吸收系数、择优取向参数等。 4.1 衍射谱的指标化 衍射谱标定就是要从衍射谱判断出试样所属的晶系、阵胞类型、各衍射面指数并计算出点阵参数。 步骤 1. 判断试样的晶系 2. 判断试样的阵胞类型 3. 确定晶面指数 4. 计算点阵常数 按θ角从小到大的顺序，写出sin2θ的比值数列。 根据数列特点来判断 判断顺序： 先假定试样属于简单晶系，若不是，则假定为更复杂的晶系，即 立方晶系——四方晶系——六方晶系——菱方晶系——正交晶系 一、立方晶系的衍射谱标定 根据布拉格方程和立方晶系面间距表达式，可写出： 去掉常数项，可写出数列为： 式中sin2θ的角下标1，2等，就是实验数据中衍射峰从左到右的顺序编号。 由于H、K、L均为整数，它们的平方和也必定为整数， sin2θ数值列必定是整数列——判断试样是否为立方晶系的充分和必要条件。 实验操作 测量衍射谱，计算sin2θ，写成比例数列 找到一个公因数，乘以数列中各项，使之成为整数列，则为立方晶系，反之，非立方晶系。 进一步判断 根据整数列的比值不同，可判断其是简单、面心或体心结构——(结构因子不同,消光条件不同。） 根据sin2θ ，可知H2+K2+L2，可计算出各衍射峰对应的衍射面指数。 1. 简单立方的sin2θ数值列 简单立方由于不存在结构因子的消光，因此，全部衍射面的衍射峰都出现——sin2θ比值数列应可化成： 从左到右，各衍射峰对应的衍射面指数依次为 （100）、（110）、（111）、（200）、（210）、(211)、（220）、 （300）、（310）、（311） 体心立方中，H+K+L为奇数的衍射面不出现，因此，比值数列应可化成： 对应的衍射面指数分别为 （110）、（200）、（211）、（220）、（310）、（222）、（321） FCC结构因为不出现H、K、L奇偶混杂的衍射，因此，数值列应为： 相应的衍射面指数依次为 （111）、（200）、（220）、（311）、（222）、（400）、（331）、（420）、（422） 课堂练习 立方晶系标定的问题 体心立方和简单立方的区别是数列中是否出现7，体心立方能出现7，而简单点阵不会出现。因此，在标定这两种结构时，衍射线条数目不能少于8条（受衍射设备的限制，可能得不到8条衍射线）。 对于衍射线条数目少于8条的情况，还可以从多重因子来考虑，简单立方衍射花样的前二条线的干涉指数为（100）和（110），体心立方为（110）、（200）。（100）和（200）的P=6，（110）的P=12。 因此，在简单立方中，第二条线比第一条线强，在体心立方中，第一条线比第二条线强。 在实际测量时，某一条或几条衍射强度特别低的线条可能不会出现，可能导致判断错误。如