集成电路测试技术基础.ppt

4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 D算法 电路的单字覆盖表 4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 D算法 由于故障发生在G2门，选择d (X,1,0)做为D体，则D体传递表为 4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 D算法 在执行相交运算时，表4和表5空的地方都认为是X，则沿着传输路径 5-8-9的D驱动和一致化操作如表所示。将D驱动操作过程中相交运算 形成的D体都称为“测试体”，用tc表示，将故障的初始D体选为起始 测试体，用tc0来表示，以后顺序用tc1、tc2等来表示。 4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 D算法 一致化操作不成功，在 的操作中端口1出现空值，而 如果在tc3的操作中用 这个操作的话，也会出现空值， 所以所选择的路径5-8-9不太合适，下面用路径5-7-9试一下，所对 应的D驱动和一致化操作如表 4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 D算法 确定故障的初始D体； 确定敏感路径上各门的D体传递； 与敏感路径上的D体传递进行相交运算，目的是传递故障； 进行一致化操作，即根据非敏感路径上各门的单字覆盖表确定所有的输入值。 如果出现空值（存在矛盾），则重新选择敏感路径，重复上述步骤。 总结 单字覆盖（X表示不敏感值）； D体传递（熟练掌握各门的D体传递）； 故障的初始D体； D体相交规则； D算法步骤。 作业 1. 此电路节点6处存在s-a-0故障，利用D算法推导出能够检测该故障的测试向量。（要求给出详细步骤） Microelectronic Center, NCUT Microelectronic Center, NCUT 集成电路测试技术基础 主讲：魏淑华 微电子学系 第4章 组合逻辑电路的测试方法 4.1 数字电路的故障诊断 4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 1. 一维敏感路径法 2. 布尔差分法 3. D算法 单字覆盖 D体 D体传递 故障的初始D体 D相交 4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 3. D算法 第一个成功用于非冗余组合电路测试向量生成的算法。 单字覆盖（singular cover） 图6 或非门对应的真值表及单字覆盖表 (a)真值表 (b)单字覆盖表 不敏感（对输出结果没有任何影响）的输入用X表示 所谓的“单字覆盖”对应着的是原正常真值表的压缩形式 压缩过的每一行称做一个“单体”（singular cube）。 4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 （1） 单字覆盖（singular cover） 复杂电路的单字覆盖表 图7 复合电路原理图和所对应的单字覆盖表 该电路的单字覆盖表由三部分组成，每一部分对应每一个门， 也就是说，对于复合电路，每一个门的单字覆盖表的共同集合 构成了复合电路的单字覆盖表。 4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 （1） 单字覆盖（singular cover） 基本电路的单字覆盖表 4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 （2) D体（D-Cube） 应用在D算法中的各输入输出数字状态可能为0或为1， 所谓的D体指的是某种数字值（0或1）。 需要强调说明的是，在同一个电路中，只可能有一个 D体，假如某个电路指定数字0为D体，记为D=0，否则 当指定了D体后，在整个测试过程中D的值就不能再发生 变化了。 4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 (3) D体传递 对某一个门来说，D体传递指的是，该门的输出决定于 某一个特定输入端的状态， 在其它输入端的状态不变的情况下，输出随着特定输入 端的值的变化而变化， 定义该输入端的值为D体的话，则这个门的输出反映出 D体这就叫做D体传输。 可以认为，故障是可以按照这种D体传递的方式进行的， 这也是在这里讨论D体及D体传输的主要目的。 4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 (3) D体传递 对应图6中所示的或非门，D体传输为： 如果或非门的一个输入端为0，则输出与另一个输入端成互补关系。 4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 (3) D体传递 由单字覆盖表可以推导出D体传递关系： 推导方法是，对某个门，先列出其单字覆盖表，对带有不同 输出值的D体进行相交运算，从而可以系统构建D体传递关系。 其中所遵循的相交运算关系如下所示： 4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 (3) D体传递 对于双输入与非门，可以按照上面的介绍从单字覆盖表推导出 D体传递关系。 图8 与非门由单字覆盖表推导出D体传递关系示意图 (a) 单体覆盖表 (b)D体传递关系 4.2 组合逻辑电路的向量生成技术 (3) D