4-高聚物的相及相转变中的亚稳态现象试卷.ppt

缺点：从光学显微镜法（形态法）的实验过程来看，各个环节的干扰因素较多，观察到的微观结构尺寸较大，观察到的形态变化不连续，这些都限制了本方法的更深入的应用。 优点：光学显微镜法（形态法）一直就应用于共混物的相行为研究中，主要原因是该方法直观性好、简单易行。 5. 电子显微镜法 电子显微镜主要指透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM）。它们是利用电子束射线与物质的相互作用来对物质的组成和表面形貌进行观察。 电子显微镜的分辨本领与所用波长成反比。波长愈短，分辨本领愈高。一百万电子伏特的电子波长约1.0－13m，比可见光小～1.06倍，这样的电子显微镜能直接得到零点几个nm的分辨本领。 （1）透射电子显微镜（TEM） 是利用透过试样的电子成像的。由于电子射线的穿透能力很弱，要求试样的厚度。这可由超薄切片和冷冻切片来实现。制备聚合物共混物超薄片试样的主要方法有复制法和超薄切片法。 RuO4染色的PBT－PPO 树脂共混物超薄切片TEM像 （2）扫描电子显微法（SEM） 是用细聚焦电子束在试样上逐点扫描，激发产生能够反映试样表面某种特征的物理信息来调制成象的。扫描电镜可以直接观察大块试样具有介于光学显微镜和透射电子显微镜之间的性能。其在许多方面已经取代复制法而成为考察聚合物表面的一个标准方法。此法制样不需要切片。先将试样表面进行适当的处理，如磨平、抛光等，试样用真空法涂上一层20nm的金或其他适用的金属薄层，以防止在电子束中带电。这种方法避免了复制法中常常遇到的复制技术上的困难。 PMMA/SAN Blend 6. 原子力显微镜（AFM） 是一个对力非常敏感的微悬臂，其尖端有一个微小的探针，当探针轻微地接触样品表面时，由于探针尖端的原子与样品表面的原子之间产生极其微弱的相互作用力而使微悬臂弯曲，将微悬臂弯曲的形变信号转换成光电信号并进行放大，就可以得到原子之间力的微弱变化的信号。 原子力显微镜具有原子级的分辨率。 包括可见光散射、小角－X光散射和小角中子散射。 散射方法可以较好的研究共混体系的混容性。它是利用体系对不同波长的辐射的散射，测定体系内部某种水平上的不均匀性，以此推断的混容性和分散程度。 物质中存在某种不均匀结构，可引起相应的散射。例如，介质折射率的涨落，引起可见光散射；介质电子密度的涨落，引起X光散射；在中子散射时，基本的散射体是原子核而不是电子，它在高分子中的应用主要是根据H和D（重氢）对中子散射的振幅差别很大。尽管引起这三种散射的辐射和结构因素不同，但就它们都是体系的不均匀结构对某种辐射的散射而言，本质是相同的，其理论分析和试验数据的处理方法是相似的。 7. 散射法 检测方法 可检尺度 广角x－射线衍射 0.1～2nm 小角x－射线衍射（SAXS） 2～100nm 透射电镜（TEM） 0.2～10000nm 小角光散射（SALS） 0.02～100μm（20nm） 扫描电镜（SEM） 10～1000nm 光学显微镜 1～10000μm 小角中子散射（SANS） 5～50nm 由NG机理进行相分离而形成的形态结构主要为珠滴／基体型，即一种相为连续相，另一相以球状颗粒的形式分散其中。 按SD机理进行的相分离，相畴(即微区)尺寸的增长可分为三个阶段：扩散、液体流动和粗化。—般而言，SD机理可形成二维共连续的形态结构。这种形态结构赋予聚合物共混物优异的力学性能和化学稳定性，是某些聚合物共混物具有明显协同效应的原因。 按SD机理(左)和NG机理(右)进行的相分离的不同阶段: 在NG区，相分离微区的组成是常数，仅成核珠滴的直径及其分布随时间而变； 在SD区，组成核微区尺寸都随时间而改变。 相容性的判据和测定方法 （此方法与聚合物表征、测试与分析相同，不讲） 相容性的判据和测定方法 1. 浊度法（目测法） 按照定义，稳定的均相混合物是透明的，而不稳定的非均相混合物，除非它各组分的折射率相同，否则都是混浊。一种稳定的均相混合物，通过改变它的温度、压力或组成，都能实现由透明到混浊的转变。浊点相当于这一转变点，也就是相分离开始点。 对于聚合物混合物，通常采用由充分混合的共混物质的制得薄膜来测