第七章原子吸收光谱法解说.ppt

阶跃线荧光： 光照激发，非辐射方式释放部分能量后，再发射荧光返回基态。荧光波长大于激发线波长（荧光能量间隔小于激发线能量间隔）。图A、C 。非辐射方式释放能量：碰撞、放热。 光照激发，再热激发，返至低能级，发射 荧光，称为热助阶跃线荧光，图B、D 。 anti-Stokes荧光： 先热激发再光照激发(或反之)，然后发射荧光跃迁至低能级，也称为热助反斯托克斯荧光。荧光波长小于激发线波长；荧光能量间隔大于激发线能量间隔。 铟原子：先热激发，再吸收光跃迁451.13nm；发射荧光410.18nm，图A、C 。 （3）敏化荧光 受光激发的原子与另一种原子碰撞时，把激发能传递另一个原子使其激发，后者发射荧光。 所有类型中，共振荧光强度最大，应用最为广泛。 3.荧光猝灭与荧光量子效率 荧光猝灭： 受激发原子与其他原子碰撞，能量以热或其他非荧光发射方式给出，产生非荧光去激发过程，使荧光减弱或完全不发生的现象 A* + B = A + B + ΔH 荧光猝灭程度与原子化气氛有关（试样基体、火焰成分）。 荧光效率： ? = ? f / ? a 　 ? f发射荧光的光量子数；? a吸收的光量子数之比。 4.待测原子浓度与荧光的强度 当光源强度稳定、辐射光平行、自吸可忽略 ，发射荧光的强度 If 正比于基态原子对特定频率吸收光的吸收强度 Ia ： If = ?　Ia 在理想情况下： I0 原子化火焰单位面积接受到的光源强度；A为受光照射在检测器中观察到的有效面积；K0为峰值吸收系数；l 为吸收光程；N为单位体积内的基态原子数。 三、原子荧光光度计 原子荧光光度计与原子吸收光度计在很多组件上是相同的 原子化器（火焰和石墨炉） 检测器为光电倍增管等 原子荧光光度计与原子吸收光度计的主要区别 1. 光源: 可用锐线光源或连续光源 要求发射强度高、稳定性高 2. 光路: 原子荧光中，为了检测荧光信号，避免透射光的干扰，要求光源、原子化器和检测器三者处于直角状态；原子吸收光度计中，这三者是处于一条直线上 原子荧光光谱法教学基本要求 掌握原子荧光光谱产生的基本原理 掌握原子荧光的类型及产生机理 了解荧光分析仪器的基本构造 * * * * * * * * * * * * * 化学计量火焰 燃气与助燃气之比与化学计量反应关系相近，又称为中性火焰 ，这类火焰, 温度高、稳定、干扰小、背景低，适合于许多元素的测定 富燃火焰 燃气大于化学计量的火焰。又称还原性火焰。火焰呈黄色，层次模糊，温度稍低，火焰的还原性较强，适合于易形成难离解氧化物元素的测定。干扰较多，背景高 贫燃火焰 助燃气大于化学计量的火焰，又称氧化性火焰，火焰呈蓝色，氧化性较强，温度较低，适于易离解、易电离元素的原子化，如碱金属等 5. 火焰原子化器特点 优点：简单 火焰稳定 重现性好 精密度高 应用范围广 缺点：原子化效率低，只能液体进样 （二）非火焰原子化器 常用的是石墨炉原子化装置，结构如图所示： 外气路中Ar气体沿石墨管外壁流动，冷却保护石墨管；内气路中Ar气体由管两端流向管中心，从中心孔流出，用来保护原子不被氧化，同时排除干燥和灰化过程中产生的蒸汽。 原子化过程 原子化过程分为干燥、灰化（去除基体）、原子化、净化（去除残渣） 四个阶段，待测元素在高温下生成基态原子。 与火焰原子化法相比，石墨炉原子化法具有如下特点： 灵敏度高、检测限低，绝对灵敏度达10-12?10-15g 用样量少，特别适用于微量样品的分析，通常固体样品为0.1?10mg，液体试样为5 ?50uL 试样直接注入原子化器，从而减少溶液一些物理性质对测定的影响，也可直接分析固体样品 排除了火焰原子化法中存在的火焰组份与被测组份之间的相互作用，减少了由此引起的化学干扰 石墨炉原子化法所用设备比较复杂，成本比较高。 但石墨炉原子化器在工作中比火焰原子化系统安全 (三)低温原子化法 低温原子化法又称化学原子化法，其原子化温度为室温至摄氏数百度，常用的有汞低温原子化法及氢化物法。 （1）汞低温原子化法 主要应用于：各种试样中Hg元素的测量； 原理：将试样中的汞离子用SnCl2或盐酸羟胺完全还原为金属汞后，用载气流将汞蒸气带入具有石英窗的气体测量管中进行吸光度测量。 特点：常温测量； 灵敏度、准确度较高 （2）氢化物原子化法 主要是氢化物原子化方法，原子化温度700~900゜C ； 主要应用于：As、Sb、Bi、Sn