基于虚拟仪器技术的半导体激光器质量检测系统.pdfVIP

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2017-03-18 发布于广东
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基于虚拟仪器技术的半导体激光器质量检测系统.pdf

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基于虚拟仪器技术的半导体激光器质量检测系统.pdf

基于虚拟仪器技术的半导体激光器质量检测系统曹军胜郭树旭石家纬解澎梁庆成刘奎学 (吉林大学电子科学与工程学院长春130012) 摘要：本检测系统是采用NI的高性能数据采集卡PCI-6014，在Measurement Studio平台上设计开发的，能在快速准确地测数值分析，给出作为评价半导体激光器质量和可靠性重要依据的几个参数。 Measurement 关键宇：虚拟仪器NI-DAQ Studio半导体激光器质量检测电导数 ofSemiconductor LasersBasedonofthe QualityTestingSystem VirtualInstrument Technology Cao GuoShuxuShiJiaweiXie LiuKuixue Junsheng PengLiangQingcheng (JilinUniversity 130012) Changchun Abstract：The ofsemiconductorlasersbased011thebasisoftheofthe qualitytestingsystem virtualinstrument technology,adoptS the data with cardPCI-6014ofNltheMeasurementStudiousedas high-performance thesoftware acquisition developingplatform． WecanmeasuresuchfourcurvesasV-I、IdV／dI、P-I、dP／dI ofthesemiconductorlasers and such quickly accurately,whichprovide asIth、Rs、m、h、btoevaluatethe ofsemiconductorlasers． parameters quality Keywords：Virtual ofsemiconductorlasers． instrument；NI-DAQ；measurementstudio；quality testing 率曲线(P．I)和光导数曲线(dP俎I)的基础上，通 1前言过曲线拟和等数值分析方法，给出作为评价半导体激光器质量重要依据的几个参数一一阈值电流近年来，0．81．0．98um的大功率半导体激光器 (Ith)、阈值处结电压饱和时电导数曲线的下沉高 (LD